Толщина - объект
Cтраница 1
Толщина объекта достигает 50 м и более. [1]
Толщины объектов эксплуатации колеблются от единиц до сотен метров. [2]
 |
Схема расположения и.| Конструкция проходных. [3] |
Обычно толщина диэлектрического объекта и размеры свободного пространства над электродами значительно превышают глубину зоны контроля. [4]
Для ручного контроля толщины объектов с большой площадью поверхности перспективно применение ручных приборов с автоматической регистрацией результатов. Подобные задачи позволяет решать система ISONIC, описанная в разд. Одновременно осуществляется слежение за качеством акустического контакта. В результате система ISONIC представляет карту изменения толщины, например, под действием коррозии. [5]
Примером метода измерения толщин объектов, доступных лишь с одной стороны, является метод рассеянного бета-излучения. [6]
 |
Схема устройства электронного микроскопа. пии могут быть значительно расширены а-схема оптического ми-несколькими путями. кроскопа. б - схема элек. [7] |
Интенсивность поглощения пропорциональна произведению толщины объекта на его плотность. Таким образом в электронном микроскоре получаются теневые изображения наблюдаемых объектов, позволяющие определять, во-первых, размеры и, во-вторых, внешние контуры изучаемых предметов. [8]
 |
Схема устройства микроскопов. а-оптического. б-электронного. [9] |
Интенсивность поглощения пропорциональна произведению толщины объекта на его плотность. Таким образом в электронном микроскопе получаются теневые изображения наблюдаемых объектов, позволяющие определять, во-первых, размеры и, во-вторых, внешние контуры изучаемых предметов. [10]
Существует некоторая предельная величина толщины объекта исследования, начиная с которой дальнейшее увеличение размеров несущественно в оценке таких параметров разрушения, как предел усталости и вязкость разрушения. [11]
Так, например, если толщина объекта 10 мкм, а показатель преломления его отличается от показателя преломления ср. [12]
 |
Путь электронного луча в электронном микроскопе. [13] |
Из-за ограниченной проникающей способности электронов толщина объектов исследования не должна превышать 0 1 мкм. Это создает определенные трудности при приготовлении образцов в виде тонких пленок или ультратонких срезов. Вот почему нередко пользуются косвенным методом исследования - методом реплик. В этом случае с исследуемой поверхности образца ( как правило, со свежего скола) получают тонкий отпечаток, достаточно точно воспроизводящий ее рельеф - реплику. Реплику обычно получают методом напыления. Для этого на свежий скол исследуемого объекта наносят при испарении в вакууме углерод, создающий удерживающий слой в виде тонкой сплошной пленки на изучаемой поверхности. [14]
Сначала строят карту в изолиниях нефтегазонасыщенных толщин подсчетного объекта, соответствующего данной стадии изученности с учетом кондиционных пределов параметров продуктивных пластов по газовой и нефтяной частям залежи. Для построения этой карты по каждой скважине учитывают сумму выделенных эффективных нефтенасыщенных и эффективных газонасыщенных толщин подсчетного объекта. Затем составляют карту эффективных газонасыщенных толщин только по газовой части залежи. Карту нефтенасыщенных толщин получают путем геометрического вычитания карты в изолиниях газонасыщенных толщин из карты изолиний нефтегазонасыщенных толщин. При построении карты в изолиниях нефтенасыщенных толщин необходимо обращать внимание на то, что на внешнем контуре газоносности и на внутреннем контуре нефтеносности изопахиты должны иметь излом. [15]
Страницы: 1 2 3 4 5