Толщина - диэлектрическое покрытие
Cтраница 2
Методом вихревых токов измеряют диаметр проволоки, прутков, труб, толщину металлических листов и стенок труб при одностороннем доступе к объекту, толщину электропроводящих и диэлектрических покрытий ( гальванических, лакокрасочных и др.) на электропроводящих основаниях, а также толщину слоя многослойных структур, содержащих электропроводящие слои. С помощью метода вихревых токов контролируют и зазоры. [16]
 |
Частотно-фазовый метод в двухантенном ( в и одноантенном ( б вариантах. [17] |
Толщину тонких пленок целесообразно контролировать эллипсометрическим радиоволновым методом, при этом толщина тонких металлических пленок на диэлектрических подложках определяется по величине азимута, а толщина диэлектрических покрытий на металле - по величине эллиптичности отраженной СВЧ-волны. При отражении от указанных систем измеряется только один поляризационный параметр, а другой остается постоянным в пределах точности измерений. [18]
Рассмотрим принцип действия типичного СВЧ-толщиномера СТ-31И [1], функциональная схема которого дана на рис. 4.17 и который реализует амплитудно-фазовый способ. Основное его назначение - контроль толщины диэлектрических покрытий на любом металлическом основании. [19]
Разделение веществ на группы в зависимости от их электропроводности условно и не вполне достаточно. Оно не учитывает условий электризации и не позволяет выявлять влияние на эффективность заземления проводящих оснований или толщины диэлектрических покрытий. [20]
Блок измерения толщины содержит преобразователи и элементы схемы измерения. Его действие основано на изменении ЭДС, индуктируемой в измерительной обмотке преобразователя магнитным потоком сердечника, величина которого есть функция толщины диэлектрического покрытия. [21]
Все сказанное имеет место при решении простых двухпараметровых задач, когда применение амплитудно-фазового метода достаточно строго обосновано. К ним относится сравнительно небольшой круг практических задач, например, измерение удельной электрической проводимости немагнитных металлов, а также зазора или толщины диэлектрического покрытия на неферромагнитаой металлической основе. Как правило, число параметров, влияющих на результаты контроля, значительно больше двух, поэтому возможности двухпараметровых приборов резко ограничены. При обосновании применения амплитудно-фазового способа в этих случаях исходят из того, что все остальные параметры, кроме двух учитываемых, стабилизируются технологией производства изделий. Чаще всего такая стабилизация не обеспечивается, так как электрические и магнитные параметры многих изделий технической документацией не нормируются. Поэтому гарантировать паспортные технические характеристики прибора весьма трудно. Отсюда распространена ситуация, при которой прибор удовлетворительно работает определенное время, но постепенно достоверность его показаний снижается до недопустимого уровня. В этом случае пределы изменения неучитываемых параметров объекта значительно превышают планируемые. [22]
При более высоких частотах ( / 60 кгц) начинает оказывать влияние величина тока в канале стримера, обусловленная изменением во времени электрического поля. Это подтверждается опытами на проводах, имеющих покрытие из диэлектрика. Толщина диэлектрического покрытия, а следовательно и его емкость, оказывают существенное влияние на условия формирования стримеров. Увеличение внешнего диаметра провода, как и в случае его металлической поверхности, приводит к уменьшению частоты, при которой возникают стримеры. Сказанное иллюстрируется следующими цифрами. На проводе с внешним диаметром 4 мм при емкости диэлектрического покрытия 100 и 260 пф / м стримеры при п возникают при частотах 95 и 60 кгц соответственно. На гладких металлических проводах диаметром 7 и 4 мм при 1 стримеры возникают при частотах около 1 и 4 кгц соответственно. В проводившихся опытах реактивное сопротивление слоя диэлектрика было на несколько порядков меньше омического. [23]
Устройство, реализующее данный способ, позволяет контролировать большое число параметров материалов, в том числе толщину. Однако для раздельной регистрации измеряемых параметров необходимы дополнительные устройства, усложняющие конструкцию прибора. При измерении толщины диэлектрических покрытий показания СВЧ-прибора очень чувствительны к нестабильности частоты и амплитудно-фазовых характеристик высокочастотной и регистрирующей аппаратуры. [24]
Толщиномеры диэлектрических покрытий обеспечивают высокую чувствительность к изменению толщины покрытий. Вихретоковые толщиномеры, позволяющие измерять толщины электропроводящих изделий, получили не такое широкое распространение, как толщиномеры для измерения толщины диэлектрических покрытий. [25]
Страницы: 1 2