Cтраница 2
При контроле толщины слоя покрытия наиболее важным является определение местной ее величины, например в углублениях, где осаждение металла было затруднено. Методы химического контроля толщины покрытий основаны на растворении покрытия на выбранных участках поверхности под действием специально приготовленных растворов. Толщина покрытия рассчитывается либо по времени воздействия раствора до полного разрушения ( удаления) покрытия на данном участке, либо по объему раствора, затраченному на его удаление. Для этих целей в цеховой практике применяют сравнительно простые методы контроля местной толщины покрытия - струйный или капельный. Применение струйного или капельного методов предусмотрено ГОСТ 3003 - 58 для определения толщины цинковых, кадмиевых, никелевых и многослойных покрытий и ГОСТ 3263 - 46 для оловянных покрытий. [16]
Быстро развивается и показывает хорошие результаты рентге-нофлуоресцентный метод, основанный на том, что падающее первичное излучение создает при взаимодействии с материалом покрытия характеристические электромагнитные волны [25], имеющие кванты определенных длин волн и интенсивности. Спектральный состав излучения зависит от того, какие элементы имеются в материалах контролируемого объекта, а интенсивность - от массы данного элемента. Подбирая фильтры, выделяющие необходимую спектральную линию, характерную для материала покрытия, анализируя интенсивность и энергию квантов вторичного излучения с помощью различных электронных дискриминаторов, можно определить толщину одного или нескольких не очень толстых покрытий. Используемые при рентгенофлуоресцентном методе эффекты более сложны в приборной реализации, поэтому аппаратура на базе этого метода пока не выпускается крупными сериями. Вместе с тем имеются примеры успешного внедрения таких приборов в практику неразрушающего контроля толщин покрытий при разных сочетаниях материалов: хром, олово, цинк, алюминий, титан или серебро на стали, медь на алюминии, хром на цинке, кадмий на титане и др. Решающим фактором применимости рентгенофлуо-ресцентного метода является наличие достаточной интенсивности вторичного излучения в диапазоне, где его регистрация эффективна. Также его ценным качеством является возможность измерений толщины многослойных покрытий, причем, когда их толщины соизмеримы, можно проводить в ряде случаев раздельный контроль. Успешно производится измерение толщины серебра на фотобумаге и ферролаковом покрытии. [17]