Cтраница 3
Исследование емкостных коаксиальных датчиков показало, что они могут быть построены на различные диапазоны измеряемых толщин пленок. Протяженность линейного участка характеристики датчика зависит от соотношения диаметров Dfd, а также от его конструктивных особенностей. Используются датчики двух типов: открытые и защищенные. В защищенном варианте отсутствует влияние сквозной проводимости жидкой пленки, что достигается нанесением изолирующего диэлектрического слоя на центральный электрод. При этом измерительная схема работает в оптимальных условиях. Открытый вариант исполнения датчика не исключает известного влияния сквозной проводимости пленки, которое в определенном интервале толщин пленок может быть сведено к нулю. Такие датчики имеют больший уровень изменения емкости на единицу изменения толщины пленки, более просты в изготовлении и соответственно дают больший сигнал на выходе измерительной схемы. [31]
В последнее время в каландрах начинают применять системы автоматического регулирования зазора валков в функции измеряемой толщины получаемого листа. [32]
На сетку лампы JIt ( 6Н8С) подается через выпрямитель ДГЦ-2 отрицательный потенциал, величина которого изменяется соответственно измеряемой толщине покрытия. [33]
Погрешность большинства контактных резонансных толщиномеров при использовании их в качестве измерительных приборов составляет 1 - 2 % от измеряемой толщины. Дальнейшее повышение точности за счет совершенствования отсчетных устройств большого эффекта не дает. В работе [33] указывается, что распределение резонансных частот не подчиняется точно приведенной выше формуле. Это явление обусловлено тем, что прибор регистрирует не моменты установления резонансных явлений в стенке изделия, а акустические резонансные явления во всей системе, включающей пьезопластину, демпфер, промежуточную контактную прослойку и контролируемое изделие. Дополнительная погрешность в результате измерений вносится непостоянством толщины контактной жидкой прослойки. [34]
Погрешность эхо-импульсных толщиномеров при измерении изделий с хорошо обработанными и параллельными поверхностями не превышает 0 1 мм, а минимальная измеряемая толщина плоских образцов - 0 25 - 0 3 мм. При измерении изделий с грубообработан-ными, корродированными и непараллельными поверхностями погрешность измерений возрастает до 0 2 - 0 3 мм, а минимальная измеряемая толщина до 1 2 - 1 5 мм. [35]
![]() |
Структурная схема рентгеновского толщиномера фирмы Daystrom Corp.| Структурная схема радиоизотопного толщиномера типа IrS 40 / 70 фирмы Exatesl. [36] |
Рабочий поток 2 происходит через измеряемую полосу 3 и набор эталонных пластин 13, общая толщина которых в сумме с измеряемой толщиной равна толщине стандартного эталона. Измеряемый материал находится в рабочем потоке излучения, а клин задания - в другом потоке. Сигналы, полученные на приемниках излучения, прошедшего через исследуемый объект и клин задания, сравниваются усилителем, на выходе которого включен прибор, показывающий отклонение сравниваемых между собой толщин. [37]
Однако выполнение этого условия затруднено, с одной стороны, ограниченным выбором радиоактивных изотопов, а с другой - широким интервалом измеряемых толщин осадка. Поэтому при создании пылемеров приходится ограничиваться некоторым приближением к этому оптимальному условию. [38]
Преимуществами этой схемы являются широкий диапазон измерений, ограниченный только нелинейностью фазовых характеристик на концах свободного хода резонатора; легкость изменения интервала измеряемых толщин без какой-либо подстройки положения волноводных концов; широкий допуск на параллельное смещение листа и значительное снижение нежелательного влияния параллельного смещения на точность измерения. [39]
Измерение толщины может достоверно, с высокой чувствительностью производиться в пределах линейного участка осциллириующей кривой, а также при условии априорного знания области измеряемых толщин. [41]
Измерение толщины может достоверно, с высокой чувствительностью производиться в пределах линейного участка осцилдириующей кривой, а также при условии априорного знания области измеряемых толщин. [43]
![]() |
Зависимость отраженного сигнала от толщины диэлектрического слоя, находящегося на металле, для различных расстояний ( мм между излучающей антенной и металлом. [44] |
Измерение толщины может достоверно, с высокой чувствительностью производиться в пределах линейного участка осциллирующей кривой, а также при условии априорного знания области измеряемых толщин. [45]