Cтраница 2
На базе микроскопов или их узлов путем доработки или частичного упрощения создаются специализированные устройства для решения конкретных задач неразрушающего контроля. В качестве примера таких устройств можно отметить переносные микроскопы, толщиномеры покрытий ПТС-1 и ПСС-2, прибор ПКПА для контроля качества кристаллов. [16]