Cтраница 2
Видоизмененные варианты магнитных толщиномеров ( основанные, например, на измерении магнитного сопротивления покрытия) могут использоваться и для контроля толщины ферромагнитных покрытий на неферромагнитной основе. [16]
![]() |
Схема действия магнитостати-ческих толщиномеров. [17] |
В большинстве современных магнитных толщиномеров используется двухполюсная магнитная система с постоянными стержневыми и П - образ-ными магнитами. Простейшими приборами такого типа являются толщиномеры, в которых применение П - образ-ного магнита сочетается с использованием механической магнитоуравнове-шенной системы, расположенной в межполюсном пространстве магнита. [18]
В большинстве современных магнитных толщиномеров используется двухполюсная магнитная система с постоянными стержневыми и П - образными магнитами. Простейшими приборами такого типа являются толщиномеры, в которых применение П - образного магнита сочетается с применением механической магнитоурав-новешенной системы, расположенной в межполюсном пространстве магнита. [19]
![]() |
Схема действия магнитостатических толщиномеров. [20] |
В большинстве современных магнитных толщиномеров покрытий используется двухполюсная магнитная система с постоянными стержневыми и П - образ-ными магнитами. [21]
Толщину определяют магнитным толщиномером ИТП-1, расход эмали определяют по привесу окрашенного образца. [22]
При работе с магнитными толщиномерами необходимо учитывать многочисленные факторы, влияющие на результаты измерений. К ним относятся колебания магнитных свойств покрытия или подложки, состояние поверхности, форма изделия и др. В значительной мере влияние этих факторов обусловлено размерами и формой магнита, топографией и напряженностью магнитного поля. В связи с возросшими требованиями к точности и надежности производственного контроля толщины покрытий резко возросли требования к их метрологическому обеспечению. [23]
![]() |
Структурная схема индукционного толщиномера. [24] |
При работе с магнитными толщиномерами необходимо учитывать многочисленные факторы, влияющие на результаты измерений. В значительной мере влияние этих факторов обусловлено размерами и формой магнита, топографией и напряженностью магнитного поля. В связи с возросшими требованиями к точности и надежности производственного контроля толщины покрытий резко возросли требования к их метрологическому обеспечению. [25]
При работе с магнитными толщиномерами необходимо учитывать многочисленные факторы, влияющие на результаты измерений. К ним относятся колебания магнитных свойств покрытия или подложки, состояние поверхности, геометрпя изделия и др. В значительной мере влияние этих факторов обусловлено размерами и геометрией магнита, топографией и напряженностью магнитного поля. В связи с возросшими требованиями к точности и надежности производственного контроля толщины покрытий резко возросли требования к их метрологическому обеспечению. [26]
При работе с магнитными толщиномерами необходимо учитывать многочисленные факторы, влияющие на результаты измерений. К ним относятся колебания магнитных свойств покрытия или подложки, состояние поверхности, форма изделия и др. В значительной мере влияние этих факторов обусловлено размерами и формой магнита, топографией и напряженностью магнитного поля. В связи с возросшими требованиями к точности и надежности производственного контроля толщины покрытий резко возросли требования к их метрологическому обеспечению. [27]
![]() |
Прибор ИТП-1. [28] |
Завод-изготовитель гарантирует исправные показания магнитного толщиномера на протяжении 700 показаний при условии соблюдения правил его эксплуатации. Прибор изготавливается Ленинаканским приборостроительным заводом. [29]
Толщина слоя покрытия определяется магнитным толщиномером. Для тонких слоев хрома используется капельный метод: одна капля 25-процентного раствора химически чистой соляной кислоты растворяет слой толщиной 1 мк. [30]