Cтраница 1
Точность определения межплоскостного расстояния dpqr, а следовательно, параметра а зависит от угла отражения - & дифракционного луча. [1]
Точность определения межплоскостного расстояния dpqr, а следовательно, параметра а зависит от угла отражения Ф дифракционного луча. [2]
Поэтому точность определения межплоскостных расстояний из электронно-дифракционных данных обычно примерно на порядок меньше, чем из рентгенографических. При этом, естественно, уменьшается яркость изображения. [3]
Для повышения точности определения межплоскостных расстояний целесообразно применять камеры большого диаметра ( 10 еж и больше) с хорошей центрировкой образца. При расчете d / n следует ввести обоснованные поправки на смещение линий. [4]
Все эти факторы значительно уменьшают точность определения межплоскостных расстояний. Однако данный метод имеет и преимущества, состоящие в том, что, во-первых, пленка может оставаться на подложке и не нужно разрушать систему пленка - подложка, а во-вторых, имеется возможность излучения всей обратной решетки образца посредством вращения его вокруг нормали к отражающей поверхности. В этом заключается отличие этого вида дифракции от дифракции на прохождение, в которой изучается только плоскость обратной решетки, перпендикулярная падающему лучу и нет возможности осуществлять наклон достаточный для изучения всего обратного пространства. [5]
При проведении электронографического анализа следует учитывать, что точность определения межплоскостных расстояний на кольцевых электронограммах не превышает 10 - 3 А, так как регистрируются линии с малыми ( до 2 - 3) углами дифракции. [6]
Однако помимо этого при одной и той же ошибке в определении угла в точность определения межплоскостного расстояния также увеличивается. [7]
Однако помимо этого при одной и той же ошибке в определении угла Э точность определения межплоскостного расстояния также увеличивается. [8]
Однако использование для фазового анализа излучения Мо / Са нежелательно из-за малой длины волны - разрешающая способность и точность определения межплоскостных расстояний меньше, чем для более мягких Сг / Са -, Си / ( а-излучений. [9]
Создание более совершенных фокусирующих камер-монохроматоров типа камеры Гинье и ее разновидностей, включая высокотемпературные камеры, например Гинье-Ленна, позволило улучшить аппаратуру с фотографической регистрацией рентгеновского излучения. В рентгеновской порошковой дифрактометрии произошла постепенная замена счетчиков Гейгера пропорциональными и сцинтиляционны-ми счетчиками, а это позволило использовать амплитудные анализаторы и резко снизить уровень фона. Порошковые диф-рактометры последних выпусков обычно снабжены управляющими ЭВМ, на которых возможна и обработка результатов. Результатом прогресса в рентгеновской аппаратуре явилось повышение точности определения межплоскостных расстояний в области малых дифракционных углов примерно на порядок, что увеличил о в свою очередь надежность интерпретации данных, в частности надежность индицирования. [10]
Для изучения фазового состава поверхностного слоя катализаторов пользуются методом электронографии [27], так как глубина проникновения электронных лучей гораздо меньше рентгеновских и составляет величину порядка десятков и сотен ангстрем. Этот метод является также полезным при исследовании процесса образования новых фаз, когда количество новой фазы незначительно и кристаллы имеют малые размеры. В этом случае интенсивность рентгеновских рефлексов ничтожно мала и они теряются на фоне рентгенограммы, в то время как электронограмма дает отчетливую картину. Определение фазового состава поликристаллических веществ методом дифракции электронов обычно проводится по их межплоскостным расстояниям, рассчитываемым в свою очередь по формуле Брэгга-Вульфа. Точность определения межплоскостных расстояний по электро-нограммам значительно меньше, чем рентгеновским методом. [11]
Кроме того, практику приходится постоянно сталкиваться с поликристаллическими веществами неизвестной структуры. В каталогах, содержащих сведения об интенсивностях отражений и о межплоскостных расстояниях, приводятся таблицы лишь для небольшой части известных и неизвестных структур. Индексы отражений обычно не приводятся, хотя это необходимо для контроля остальных данных. Это затрудняет идентификацию фаз, а недостаток таблиц в каталогах постоянно ставит исследователей перед необходимостью определения новых структур. Поэтому большое значение имеет повышение точности определения межплоскостных расстояний, ибо таким путем можно было бы повысить шансы на успех при определении структур по порошкограм-мам, и поэтому развитию прецизионной съемки всегда уделялось большое внимание. [12]