Точность - сравнение
Cтраница 1
 |
Двойной микроскоп светового сечения МИС-11. [1] |
Точность сравнения может быть значительно повышена в случае применения специальных микроскопов сравнения. Эти микроскопы позволяют одновременно рассматривать проверяемую деталь и образец поверхности, которые в поле зрения микроскопа видны расположенными рядом при одинаковом увеличении и одинаковых условиях освещения. [2]
 |
Схема и поле зрения сравнительного микроскопа. [3] |
Точность сравнения с образцом может быть повышена, если обе поверхности будут рассмотрены одновременно в увеличенном виде и при одинаковых условиях увеличения и освещения. [4]
Точность сравнения напряжений увеличивается с увеличением их амплитуд, которые, однако, не должны превышать допустимых уровней входных дифференциальных напряжений. [5]
Точность сравнения напряжений возрастает с увеличением их амплитуд, которые, однако, не должны превышать допустимых уровней входных дифференциальных напряжений. [6]
 |
Повышение чувствительности компараторов средней точности 521СА1 ( а и 521СА5 ( б. [7] |
Точность сравнения компараторов ограничивает в первую очередь напряжение смещения нуля t / CM и входные токи / вх и / Р, а в некоторых случаях ( табл. 5.1 а) и конечный коэффициент ослабления синфазного сигнала. Методы уменьшения этих погрешностей рассмотрены в гл. [8]
Точность сравнения напряжений достигает 1 - 2 мВ и практически не зависит от температуры в широких пределах. [9]
 |
Однопороговый компаратор на ОУ ( а и его передаточная. [10] |
Точность сравнения компаратора характеризуется напряжением, на которое необходимо превысить уровень опорного, чтобы выходное напряжение достигло уровня порога срабатывания логической схемы. [11]
Для получения точности сравнения 0 2 % необходимо, чтобы период следования импульсов на блок-счетчик импульсов БСИ был не более 0 2 % от полного времени двух оборотов диска образцового счетчика. Это условие выполнимо, если с диска образцового счетчика будет получено фотосопротивлением ФСг 500 импульсов, чем и обусловлено число прорезей на диске. [12]
 |
Микроскоп МИС-11. [13] |
Для повышения точности сравнения поверхности детали с эталоном применяют специальные микроскопы. [14]
Точность преобразования определяется точностью сравнения напряжений и положением управляющих импульсов относительно импульсов серии СИ. [15]
Страницы: 1 2 3 4