Точность - фокусировка - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Демократия с элементами диктатуры - все равно что запор с элементами поноса. Законы Мерфи (еще...)

Точность - фокусировка

Cтраница 1


1 Схема кониального метода измерения микроке-ровностей. [1]

Точность фокусировки может достигать 0 01 мкм при относительной простоте схемы.  [2]

3 Действие магнитного поля как селектора. шсдульсов ( показан пучок ионов с различными импульсами р.| Схема, показывающая подробности фокусировки в селекторе скоростей с поворотом пучка на 180. / - траектория частицы, входящей под углом 60. 2-траектория частицы, входящей под углом б ьО. 3-центр кривизны траектории частицы, входящей при 9. ьО. 2р ( 1-со в рв1. ( На - / - область однородного магнитного поля. вектор в перпендикулярен к плоскости рисунка. / / - область, где индукция магнитного. [3]

Расчет точности фокусировки представляет собой чисто геометрическую задачу. Рассмотрим траекторию частицы, проходящей через входную щель под углом 9 к идеальной траектории.  [4]

Определим влияние точности фокусировки микроскопа на точность измерения ( фиг.  [5]

Кроме того, точность фокусировки понижается из-за появления параллакса - несовпадения плоскости изображения объекта с плоскостью сетки нитей окуляра и неточного совмещения сетки нитей с фокусом окуляра при юстировке.  [6]

7 Определение частотно-контрастной характеристики. а - распределение яркостей в мире ( В0 и ее фотографическом изображении ( В. б - частотно-контрастная характеристика. [7]

Резкость фотоизображения зависит от качества объектива фотоаппарата, точности фокусировки и величины ореолов рассеяния и отражения.  [8]

9 Метод эллипса. осциллограммы при разных фазовых сдвигах. [9]

Погрешность измерения фазового сдвига между двумя синусоидальными сигналами методом эллипса зависит от точности измерения длин отрезков, входящих в выражение (8.9), и точности фокусировки луча на экране осциллографа. Возможна также систематическая погрешность измерения из-за наличия различного фазового сдвига, создаваемого усилителями каналов вертикального и горизонтального отклонения лучей.  [10]

Если в оптическую отсчетную систему входит микроскоп, то погрешность отсчета будет зависеть от точности наводки микроскопа на штрих в продольном относительно его оси ( точность фокусировки) и поперечном направлениях.  [11]

При сварке очень тонкого металла фокусировкой удается получить пятно нагрева площадью около 0 1 мм, а для больших толщин диаметр электронного луча может быть изменен от 1 5 до 5 мм. Такая точность фокусировки практически недостижима при других методах сварки.  [12]

Поэтому построение устройств формирования электронного луча является важной задачей, от решения которой зависит эффективность разрабатываемого накопителя. Рассмотрим кратко основные причины, обусловливающие точность фокусировки электронных лучей.  [13]

Эта конструкция зеркальных фотоаппаратов не получила дальнейшего развития по ряду причин: при использовании светосильных объективов пленочное зеркало может несколько ухудшить качество изображения на фотопленке. Кроме того, такое тонкое зеркало легко случайно повредить, а даже малая деформация его поверхности приведет к резкому снижению точности фокусировки.  [14]

15 Изолюксы на условной плоскости для прожектора ПЗС-45, 1000 вт, 220 в. у кривых указаны килолюксы. [15]



Страницы:      1    2