Cтраница 1
![]() |
Схема кониального метода измерения микроке-ровностей. [1] |
Точность фокусировки может достигать 0 01 мкм при относительной простоте схемы. [2]
Расчет точности фокусировки представляет собой чисто геометрическую задачу. Рассмотрим траекторию частицы, проходящей через входную щель под углом 9 к идеальной траектории. [4]
Определим влияние точности фокусировки микроскопа на точность измерения ( фиг. [5]
Кроме того, точность фокусировки понижается из-за появления параллакса - несовпадения плоскости изображения объекта с плоскостью сетки нитей окуляра и неточного совмещения сетки нитей с фокусом окуляра при юстировке. [6]
![]() |
Определение частотно-контрастной характеристики. а - распределение яркостей в мире ( В0 и ее фотографическом изображении ( В. б - частотно-контрастная характеристика. [7] |
Резкость фотоизображения зависит от качества объектива фотоаппарата, точности фокусировки и величины ореолов рассеяния и отражения. [8]
![]() |
Метод эллипса. осциллограммы при разных фазовых сдвигах. [9] |
Погрешность измерения фазового сдвига между двумя синусоидальными сигналами методом эллипса зависит от точности измерения длин отрезков, входящих в выражение (8.9), и точности фокусировки луча на экране осциллографа. Возможна также систематическая погрешность измерения из-за наличия различного фазового сдвига, создаваемого усилителями каналов вертикального и горизонтального отклонения лучей. [10]
Если в оптическую отсчетную систему входит микроскоп, то погрешность отсчета будет зависеть от точности наводки микроскопа на штрих в продольном относительно его оси ( точность фокусировки) и поперечном направлениях. [11]
При сварке очень тонкого металла фокусировкой удается получить пятно нагрева площадью около 0 1 мм, а для больших толщин диаметр электронного луча может быть изменен от 1 5 до 5 мм. Такая точность фокусировки практически недостижима при других методах сварки. [12]
Поэтому построение устройств формирования электронного луча является важной задачей, от решения которой зависит эффективность разрабатываемого накопителя. Рассмотрим кратко основные причины, обусловливающие точность фокусировки электронных лучей. [13]
Эта конструкция зеркальных фотоаппаратов не получила дальнейшего развития по ряду причин: при использовании светосильных объективов пленочное зеркало может несколько ухудшить качество изображения на фотопленке. Кроме того, такое тонкое зеркало легко случайно повредить, а даже малая деформация его поверхности приведет к резкому снижению точности фокусировки. [14]
![]() |
Изолюксы на условной плоскости для прожектора ПЗС-45, 1000 вт, 220 в. у кривых указаны килолюксы. [15] |