Указанная точность - измерение
Cтраница 1
Указанная точность измерения относится к точности эталонных приборов и на современном этапе развития приборостроения практически не может быть достигнута в пружинных приборах промышленного применения. [1]
Для обеспечения указанной точности измерений необходимо отвести от измерительного элемента паразитные токи и исключить погрешность от токов влияния. [2]
 |
Способы ультразвукового контроля сварных соединений лучом.| Схема сканирования при ультразвуковом контроле. а - сварного шва. б - пересечений сварных швов. [3] |
Эти операции повторяют не менее трех раз, добиваясь указанной точности измерений. [4]
Другой источник ошибок - неточность преломляющего угла измерительной призмы - при работе с точностью до 1 10 - 4 на новых приборах известных оптических заводов можно не принимать во внимание, так как существующие весьма жесткие допуски на величину преломляющего угла обеспечивают указанную точность измерений. [5]
Другой источник ошибок - неточность преломляющего утла измерительной призмы - при работе с точностью до 1 10 - 4 на новых приборах известных оптических заводов можно не принимать во внимание, так как существующие весьма жесткие допуски на величину преломляющего угла обеспечивают указанную точность измерений. [6]
Другой источник ошибок - неточность преломляющего угла измерительной призмы - при работе с точностью до 1 - 10 - 4 на приборах известных оптических заводов можно не принимать во внимание, так как существующие весьма жесткие допуски на величину преломляющего угла обеспечивают указанную точность измерений. Было замечено также, что с годами преломляющий угол может слегка изменяться, так как разбухающая замазка деформирует призмы. [7]
Другой источник ошибок - неточность преломляющего угла измерительной призмы - при работе с точностью до 1 - 10 - 4 на приборах известных оптических заводов можно не принимать ва внимание, так как существующие весьма жесткие допуски на величину преломляющего угла обеспечивают указанную точность измерений. Однако если призмы рефрактометра были в ремонте и подвергались переполировке, то их преломляющий угол следует измерить на хорошем гониометре и при обнаружении отклонений от 90 вычислить соответствующие поправки по формуле (VII.8), Было замечено также, что с годами преломляющий угол может слегка изменяться, так как разбухающая замазка деформирует призмы. [8]
Положительной стороной метода наибольшего давления пузырька и капли, а также и самого прибора П. А. Ребиндера является возможность достижения весьма высокой точности измерений. Однако, как отмечают В. И. Семенченко и Е. А. Давыдовская, получение указанной точности измерений на приборе возможно только при значениях поверхностного натяжения не ниже 2 дн / см. При более низких значениях поверхностного натяжения этот прибор дает большую погрешность. [9]
 |
Электросопротивление аморфного сплава PdeoSizo при сверхнизких температурах. [10] |
Таким образом, можно сказать, что для изучения минимума сопротивления в аморфных неупорядоченных структурах и для анализа зависимости р - - пТ указанная точность измерений недостаточна. [11]
Такой предел точности определяется тем обстоятельством, что для решения вопроса о существовании элементарного заряда указанная точность может считаться вполне достаточной, повышение же точности отдельного измерения за 0.5 % чрезвычайно усложнило бы получение длинных серий. Время, необходимое для компенсации частички, растет с требуемой точностью. Так, например, для того, чтобы убедиться, что частичка скомпенсирована с точностью до 0.5 %, нужно, чтобы частичка, проходящая 1 деление в 1.5 сек. Прежде чем такая компенсация будет достигнута, необходим ряд пробных компенсаций, сужающих пределы искомой разности потенциалов. Таким образом, каждое измерение требует-не менее 10 мин. За это время тепловые влияния начинают заметно сказываться, приходится несколько изменить наклон конденсатора, что уже изменяет на несколько десятых процента компенсирующую разность потенциалов. Указанная точность измерения является поэтому естественным пределом, доступным без существенного усложнения опыта. В табл. 2 приведен ряд наблюдений с заданной точностью компенсации в 1 %; в табл. 3 - более длинный ряд наблюдений, являющийся типичным для всех наблюдений над фотоэлектрическим эффектом, где вопрос о точности компенсации отступает на задний план. Наконец, в табл. 6 целиком приведены данные всей серии наблюдений с одной и той же частичкой. Для оценки точности результатов здесь приведены 3 различные системы: в табл. 1, 2 и 3 указано, с какой точностью удовлетворяется постоянство произведения разностей потенциалов на ряд целых чисел, пропорциональных заряду частички; отклонения выражены в процентах. В приведенных уже предварительных опытах сравниваются измеренные разности потенциалов с теми, которые должны были бы получиться, если бы заряды выражались целыми кратными элементарного заряда. [12]
Такой предел точности определяется тем обстоятельством, что для решения вопроса о существовании элементарного заряда указанная точность может считаться вполне достаточной, повышение же точности отдельного измерения за 0.5 % чрезвычайно усложнило бы получение длинных серий. Время, необходимое для компенсации частички, растет с требуемой точностью. Так, например, для того, чтобы убедиться, что частичка скомпенсирована с точностью до 0.5 %, нужно, чтобы частичка, проходящая 1 деление в 1.5 сек. Прежде чем такая компенсация будет достигнута, необходим ряд пробных компенсаций, сужающих пределы искомой разности потенциалов. Таким образом, каждое измерение требует не менее 10 мин. Зажато время тепловые влияния начинают заметно сказываться, приходится несколько изменить наклон конденсатора, что уже изменяет на несколько десятых процента компенсирующую разность потенциалов. Указанная точность измерения является поэтому естественным пределом, доступным без существенного усложнения опыта. В табл. 2 приведен ряд наблюдений с заданной точностью компенсации в 1 %; в табл. 3 - более длинный ряд наблюдений, являющийся типичным для всех наблюдений над фотоэлектрическим эффектом, где вопрос о точности компенсации отступает на задний план. Наконец, в табл. 6 целиком приведены данные всей серии наблюдений с одной и той же частичкой. Для оценки точности результатов здесь приведены 3 различные системы: в табл. 1, 2 и 3 указано, с какой точностью удовлетворяется постоянство произведения разностей потенциалов на ряд целых чисел, пропорциональных заряду частички; отклонения выражены в процентах. В приведенных уже предварительных опытах сравниваются измеренные разности потенциалов с теми, которые должны были бы получиться, если бы заряды выражались целыми кратными элементарного заряда. [13]
Страницы: 1