Флуоресцентное возбуждение

Cтраница 1

Спектр флуоресцентного возбуждения - обычно представляемое в графической форме отношение максимума интенсивности излучения, испускаемого активированным веществом, к длине волны падающего излучения. [1]

При флуоресцентном возбуждении спектра достигается локальность порядка 5 мкм2 - при работе с кристалл-анализатором и 0 1 мкм2 - при использовании энергетической дисперсии. [2]

В отечественной литературе употребляются термины флуоресцентное возбуждение ли вторичный метод возбуждения. [3]

Функция / з вводит поправку на флуоресцентное возбуждение атомов / - го элемента более коротковолновым излучением компонентов, входящих в состав образца. Эта поправка может достигать 10 - 20 % от определяемой величины. [4]

Функция / з вводит поправку на флуоресцентное возбуждение атомов г - го элемента более коротковолновым излучением компонентов, входящих в состав образца. Эта поправка может достигать 10 - 20 % от определяемой величины. [5]

В длинноволновой области почти невозможно осуществить флуоресцентное возбуждение характеристического рентгеновского излучения вследствие очень низкой эффективности такого процесса и малой вероятности испускания в этой области из-за переходов электронов. Обычно возбуждение осуществляется с помощью пучка электронов. При этом, если не принять специальных мер предосторожности, излучающая поверхность повреждается ударяющимися о нее электронами. Например, методом электронной дифракции было установлено, что при электронной бомбардировке поверхность окиси металла может восстанавливаться до низших окислов пли даже до металла. Во избежание заметных изменении состава исследуемого образца излучающую поверхность следует тщательно охлаждать и пользоваться по возможности слабыми электронными пучками. Поскольку электроны проникают в образец на очень мал о глубину, область испускания ограничена поверхностным слоем. Излучающая поверхность сохраняется значительно лучше, если применять вторичное возбуждение, так как в этом случае возбуждающее излучение проникает на большую глубину. [6]

Схема фокусировки в многоканальном ди-фрактометре. [7]

Применяемое характеристическое излучение не должно вызывать флуоресцентного возбуждения излучения основных элементов, составляющих образец ( гл. Для этого материал анода подбирают, исходя из соотношения длины волны характеристического излучения Х / Са и ККтр ( см. табл. 5.1) или пользуясь правилом za г - 1 или za - 2 1, где z - атомный номер элемента - основы сплава. [8]

Однако при интерпретации таких дифрактограмм следует иметь в виду существенно разную глубину проникновения в образец квантов различной энергии, а также флуоресцентное возбуждение характеристического рентгеновского излучения образца падающим излучением. [9]

Если вся энергия поглощенного света излучается в виде однократного флуоресцентного излучения, то в этом случае энергия флуоресцентного света равна поглощенной энергии и флуоресценцию такого типа называют резонансной флуоресценцией. Однако при флуоресцентном возбуждении больших молекул излучение резонансной частоты очень маловероятно, так как в этом случае очень велика вероятность перехода энергии возбуждения в энергию колебания атомов. Однако иногда, особенно при повышенной температуре, электроны возбуждаются с относительно более высокого колебательного уровня основного электронного состояния и затем переходят на более низкий колебательный уровень, что приводит к флуоресцентному излучению большей энергии и, следовательно, с более короткой волной по сравнению с энергией излучения. [10]

Локальность метода мнкрорентгеноспектрального анализа определяется энергией первичных электронов. На локальность существенное влияние оказывает дополнительное флуоресцентное возбуждение характеристического рентгеновского излучения определяемого элемента или излучение другого элемента. Изменяя энергию первичных электронов, можно управлять локальностью и выполнять микрорентгеноспектральный анализ очень тонких поверхностных слоев. Метод микрорентгеноспектраль-ного анализа широко используют при идентификации включений в металлах, полупроводниках, диэлектриках, а также тонких слоев и поверхностных слоев различных микрообъектов. [11]

Спектры тормо. чяого излучения Pm147 / Al. [12]

Возникновение характеристического излучения может быть обусловлено как прямым взаимодействием Р - частицы с атомом, так и фотоэлектрическим поглощением тормозного излучения. Поскольку процессы ионизации и возбуждения р-частицами являются преобладающими по сравнению с процессом образования тормозного излучения, то прямое возбуждение рентгеновского излучения в первом приближении не зависит от тормозного излучения. Флуоресцентное возбуждение, однако, непосредственно зависит от интенсивности тормозного излучения, особенно при энергиях, больших энергий края полосы поглощения для данной мишени. [13]

К этому же невероятному пределу приближается чувствительность метода индуцированной лазерной флуоресценции. Особенно хорошие результаты дает флуоресцентное возбуждение или лазерная раман-спектрометрия. Зная скорость света, можно определить, на каком удалении находится объект. Таким образом, сигнал не только расскажет нам, какие вещества ( загрязняющие воздух соединения) находятся в объекте, но также позволит проследить, как они распространяются от источника загрязнений. [14]

Страницы: 1