Увеличение - навеска - проба
Cтраница 1
Увеличение навески пробы приводит лишь к увеличению фона спектрограммы и не дает эффективного увеличения чувствительности. Такая чувствительность определения в ряде случаев оказывается недостаточной. [1]
Таким образом, увеличение навески пробы может повысить чувствительность метода на два-три порядка и позволяет определять микропримеси до 10 - 7 - 1СГ8 отн. [2]
Чувствительность может быть повышена за счет увеличения навески пробы до 1 а - флуктуация величины холостого опыта. [3]
Чувствительность может быть повышена за счет увеличения навески пробы до 1 г. а - флуктуация величины холостого опыта. [4]
 |
Градуировочные графики для определения меди, олова и хрома при количестве испаряемой пробы. [5] |
Из рисунков видна возможность повышения чувствительности анализа при увеличении навески пробы. Это объясняется, во-первых, увеличением количества анализируемого вещества и, во-вторых, снижением количества материала электрода, приходящегося на единицу массы испаряемой пробы, в результате чего ослабляется фон и уменьшается влияние содержащихся в электродах примесей определяемых элементов. [6]
 |
Схема установки. - фориакуумнын насос ВН-461. 2 - паромаслянын насос ЦВЛ-100. [7] |
Чувствительность метода 3 - 10 - 4 % и легко может быть повышена до 3 - 5 - 10 - 50о путем увеличения навески пробы до 100 - 120 мг. [8]
Чувствительность метода может быть повышена увеличением навески пробы. [9]
Увеличение коэффициента обогащения может быть достигнуто увеличением навески образца или уменьшением массы коллектора. Практическое значение имеет первый способ, так как увеличение навески пробы приводит к увеличению концентрации определяемых микроэлементов в коллекторе. Чрезмерное уменьшение величины коллектора приводит к потерям концентрата вследствие трудностей, связанных при переходе от химического концентрирования к спектральному анализу концентрата. [10]
Меньшие содержания находятся ниже чувствительности большинства абсолютных фотометрических методов анализа. На практике эти пределы могут быть снижены до ЫО-6-1-10-7 % за счет увеличения навески пробы, концентрирования и других приемов. [11]
Меньшие содержания находятся ниже чувствительности большинства абсолютных фотометрических методов анализа. На практике эти пределы могут быть снижены до 1 - Ю-6 - Ы0 - 7 % за счет увеличения навески пробы, концентрирования и других приемов. [12]
Меньшие содержания находятся ниже чувствительности большинства абсолютных фотометрических методов анализа. На практике эти пределы могут быть снижены до 1 10 - 6 - 1 10 - 7 % за счет увеличения навески пробы, концентрирования и других приемов. [13]
Во всех случаях, когда по анализу малой выборки нужно судить о составе всей массы вещества, на первый план выступает проблема представительности пробы. Исключение составляют лишь растворы. Увеличение навески пробы - достаточно эффективный путь снижения случайной ошибки, но этот прием ограничивается возможностями метода анализа. [14]
Источник света ( рис. 1) представляет из себя графитовый полый катод ( I), в середине боковой поверхности которого сделано отверстие. К этому отверстию подставляется термическая иечь ( 2), которая одновременно является заземленным анодом. Результат эксперимента показали, что при такой конструкции источника света увеличение навески пробы приводит к пропорциональному увеличению яркости спектральных линий. [15]
Страницы: 1 2