Увеличение - эффективная толщина
Cтраница 2
В СМП выделяются пять продуктивных пачек, в АСК - семь, в состав которых входит от двух до четырех пластов. Центральная часть месторождения наиболее продуктивна, что-объясняется тектоническим нарушением и увеличением эффективных толщин. По направлению к периклиналям и крыльям, коллек-торские свойства ухудшаются, уменьшаются газонасыщенная и эффективные толщины, появляются изолирующие пропластки аргиллитов и глин, имеющие значительное площадное развитие, В СМП и АСК отдельные продуктивные пачки литологически выдержаны по всей площади. [16]
Еще более интересные явления капиллярных процессов происходят в нагнетательных скважинах. Промысловые исследования нагнетательных скважин расходомером показывают определенную зависимость профиля приемистости или эффективной толщины от объема закачиваемой воды. При уменьшении объема закачиваемой воды в скважины уменьшаются эффективная толщина и проводимость пласта ( kh), при увеличении объема за-качки, наоборот, наблюдается увеличение эффективной толщины пласта. [17]
 |
Изменение продуктивности скв. 177 - Вуктыл после обработки ее призабойной зоны. [18] |
Проведенными в сентябре 1988 г. исследованиями было установлено существенное улучшение продуктивной характеристики скважины. При прочих равных условиях дебит газа увеличился на 33 тыс. м3 / сут и достиг 120 тыс. м3 / сут, что составляет 38 % исходных добывных возможностей данной скважины. Если скважина до обработки работала в неустойчивом режиме и периодически требовала продувок или перевода на газлифт, то после обработки она стала работать в устойчивом режиме и эксплуатироваться самостоятельно. Геофизические исследования показывают, что после обработки углеводородным растворителем появился дополнительный газоотдающий интервал на глубине 3240 - 3260 м в московских отложениях, т.е. дополнительное улучшение продуктивности скважины было вызвано увеличением эффективной толщины пласта. [19]
За последние 15 лет этот метод получил развитие в Физико-химическом институте им. Карпова [9] и в других местах. Этим методом, в частности, может быть измерена толщина двойного электрического слоя на поверхности электрода; толщина увеличивается при образовании на поверхности электроизолирующего слоя. Однако, как полагают Б. В. Эршлер и Г. С. Тюриков [11], наблюдаемое уменьшение емкости двойного слоя в случае образования пленки из окисла, являющегося полупроводником, можно объяснить не величиной омического сопротивления пленки, а ограниченностью роста концентрации свободных электронов в полупроводнике, в результате которой электроны двойного слоя располагаются в полупроводнике диффу-зно, что приводит к увеличению эффективной толщины двойного слоя. Надо отметить, что более однозначные в этом отношении результаты дает применение метода измерения емкости к таким металлам, как алюминий и магний, окислы которых заведомо являются хорошими изоляторами. [20]
Страницы: 1 2