Вертикальное увеличение

Cтраница 3

Максимальная высота неровностей, которая может быть записана на барабане прибора, зависит от вертикального увеличения. Длина профилируемого участка зависит от горизонтального увеличения и составляет от 1 75 до 7 мм. [31]

Сопоставление ( 10, 14) и ( 10, 16) показывает, что горизонтальные и вертикальные увеличения спектрометра при симметричной конструкции электростатической призмы равны между собой. [32]

Изменяя настройку прибора, можно получить для одного деления шкалы значения в пределах от 0 04 до 0 25 мк, что соответствует вертикальным увеличениям от 2500 до 400 раз. [33]

К выводу формулы для подсчета увеличения vy ординат, отсчитываемых ог линии ортогональной регрессии. [34]

Все это при значительных величинах угла ср, имеющих место при большой волнистости поверхности, может вызвать существенное различие между увеличением va ординат v, отсчитываемых от средней линии профиля, и вертикальным увеличением vu, примененным при записи профилограммы. [35]

Профилограф-профилометр Талисерф 4 позволяет производить записи профилей прямолинейных участков поверхностей на длине 100 мм ( в отверстиях диаметром от 8 до 32 мм на глубине 12 7 мм и диаметром от 32 мм - на глубине 152 мм) в прямоугольной системе координат с вертикальным увеличением от 500 до 100 000х ( восемь ступеней) и с горизонтальным увеличением 20 и 100х при максимальной ширине записи 80 мм. [36]

Очень эффективен способ разрезов под небольшим углом: поверхность детали покрывают слоем хрома толщиной 5 - 10 мк и часть ее срезают под углом 1 - 2; срез травят и с границы хрома и протравленного металла делают фотоснимок, представляющий собой профило-грамму с вертикальным увеличением до 8000 раз. [37]

Профилограф-профилометр Талисерф 4 позволяет производить записи профилей прямолинейных участков поверхностей на длине 100 мм ( в отверстиях диаметром от 8 до 32 мм - на глубине 12 7 мм и диаметром от 32 мм - на глубине 152 мм) в прямоугольной системе координат с вертикальным увеличением от 500 до 100 000 ( 8 ступеней) и с горизонтальным увеличением 20 и 100 при максимальной ширине записи 80 мм. [38]

ИЗП-17 для проверки наружных поверхностей применена автоколлимационная схема. Вертикальное увеличение имеет 4 ступени 500 - 5.000, горизонтальное увеличение - 25 и 50, длина трассы - 1 5 - 3 мм. [39]

Чтобы получить отчетливую запись неровностей поверхности, ординаты кривой увеличиваются сравнительно с действительной высотой неровностей в 400 - 5000 раз и более, в зависимости от конструкции и настройки прибора. Вертикальное увеличение осуществляется оптической системой прибора. Горизонтальное увеличение значительно меньше вертикального; действительная длина трассы увеличивается по оси абсцисс в 10 - 50 раз. Такая резкая разница вертикального и горизонтального увеличений делается из соображений удобства чтения профилограммы. [40]

Поперечные профилограммы записывались на длине, значительно превосходившей базовую длину, отвечавшую классу шероховатости; продольные профилограммы снимались в нескольких местах по окружности с помощью специального приспособления. Вертикальное увеличение при записи выбиралось так, чтобы возможно полнее использовать диаграммную бумагу по ширине, а горизонтальное увеличение - с учетом получения четкой записи контура поверхности. [41]

Метод микрометрирования основан на измерении деталей до и после испытаний с помощью инструментальных микроскопов, микрометров, индикаторов и других приборов. Вертикальное увеличение профилографов составляет 400 - 200 0.00, что позволяет с большой точностью определять износ. [42]

Вертикальное увеличение должно быть наибольшим из возможных: профилограмма не должна выходить за пределы рабочей зоны ленты записывающего прибора профилографа; изображение профиля в оптических приборах не должно выходить за пределы поля изображения. Вертикальное увеличение микроинтерферометра и растрового мию-роскопа, определяемое через ширину полосы ( интерференционную, муаровую), выбирается, исходя. Горизонтальное увеличение при измерении параметра ЯШах и R, существенного значения не имеет. [43]

Вертикальное увеличение должно быть наибольшим из возможных: профилограмма не должна выходить за пределы рабочей зоны ленты записывающего прибора профилографа; изображение профиля в оптических приборах не должно выходить за пределы поля изображения. Вертикальное увеличение микроинтерферометра и растрового микроскопа, определяемое через ширину полосы ( интерференционную, муаровую), выбирается, исходя из оптимального числа полос в поле изображения прибора. Горизонтальное увеличение при измерении параметра Яшах и Rz существенного значения не имеет. [44]

Вертикальное увеличение интерферометров и растровых микроскопов, определяемое через ширину полосы ( интерференционной, муаровой), выбирают исходя из оптимального числа полос в поле изображена прибора. [45]

Страницы: 1 2 3 4