Дисперсия - намагниченность
Cтраница 2
 |
Блок-схема гистерезисографа. [16] |
Высота петли пропорциональна М и d, поэтому при соответствующей калибровке одну из этих величин можно измерить. Если возбуждающее поле приложено вдоль ЛО, можно определить Нс, измеряя минимальное поле, для которого может наблюдаться петля гистерезиса, см. разд. Если слабое возбуждающее поле приложено вдоль ТО пленки, находящейся в монодоменном состоянии, может быть найдено Нк, если узкую петлю гистерезиса экстраполировать к значению, соответствующему насыщению М разд. Однако такая методика измерения Нц справедлива только для пленок с малой дисперсией намагниченности, разд. [17]
Во многих случаях бывает необходимым исключить деформационно-магнитострикционную анизотропию. Так, например, случайные анизотропные напряжения в подложке легко могут вызвать отклонение общего направления ЛО от направления магнитного поля, прикладываемого во время нанесения пленки. Такое отклонение называется скосом ЛО и, как правило, нежелательно, особенно в пленках, изготавливаемых для технических применений. Даже в том случае, если деформации в пленке макроскопически изотропны, в действительности имеется много локальных изменений, которые могут давать вклад в дисперсию намагниченности, разд. Необходимо отметить, что для указанных пленок, если изменяются температура подложки или скорость нанесения, могут наблюдаться изменения ц, эквивалентные изменению состава на несколько процентов. Из-за деформационно-магннтострикционной анизотропии часто оказывается необходимым знать изотропные деформации, имеющиеся в плоскости пленки. [18]
Так, например, шлифовка подложки в определенном направлении может индуцировать одноосную ферромагнитную анизотропию, в нанесенной на нее магнитной пленке с ЛО, параллельной направлению царапин. Это явление объясняется тем, что размагничивающий фактор N в направлении большой оси вытянутого эллипсоида много меньше, чем фактор N, в направлении малой оси, поэтому М стремится расположиться вдоль главной оси, которая становится ЛО, разд. Благодаря шлифовке подложки в пленке возникает множество таких вытянутых эллипсоидов, С другой стороны, если подложка имеет малые геометрические неоднородности произвольной формы, распределенные по всей ее поверхности, нанесенная магнитная пленка будет иметь соответствующие локальные области, обладающие ферромагнитной анизотропией формы с беспорядочно направленными ЛО. По этой причине для получения пленок с хорошо выраженной индуцированной анизотропией М, с малой дисперсией намагниченности, разд. ЗБ, необходимо использовать гладкие, чистые подложки. При определенных условиях анизотропия микроскопической формы может играть решающую роль, даже при наличии совершенно чистых и гладких подложек. Если при нанесении ферромагнитной пленки в вакууме поток испаряемых молекул падает на подложку не перпендикулярно к пленке, а под некоторым углом, как допускалось до сих пор, то в пленке будет наводиться одноосная анизотропия. [19]
Страницы: 1 2