Изображение - щель
Cтраница 3
Концы изображения щели оказываются нерезкими, так как освещенность их постепенно уменьшается по линейному закону до нуля. Этот признак позволяет судить о наличии астигматизма в том или ином спектральном приборе. [31]
Удлинение изображения щели вследствие астигматизма в спектрографах с вогнутыми решетками при короткой щели вызывает уменьшение освещенности на спектрограмме, а в монохроматорах и полихроматорах требует применения высоких выходных щелей. Таким образом, астигматизм вогнутой решетки является ее существенным недостатком. [32]
Искривление изображения щели, вносимое дифракционной решеткой, связано с тем, что от разных участков щели пучки лучей падают на решетку под различными углами, и дифракция лучей происходит не в плоскости, нормальной к поверхности решетки, а в пространстве. Для точной оценки действия дифракционной решетки в этом случае нужно рассматривать ее работу в трех измерениях, теория же дифракционной решетки основана на двух измерениях. Другими словами, предполагается, что нормаль к решетке и падающие пучки лучей лежат в одной плоскости, перпендикулярной к штрихам решетки. [33]
Объектив создает изображение щели или отверстия ( уменьшенное примерно в 100 раз) в плоскости второй диафрагмы Дг, на к-рой располагается колодиевая пленка. Электроны с энергией 60 кэв, проходя сквозь пленку, фиксируются на флюоресцирующем экране. [34]
Объектив создает изображение щели или отверстия ( уменьшенное примерно в 100 раз) в плоскости второй диафрагмы Д2, на к-рой располагается колодиевая пленка. Электроны с энергией 60 кэв, проходя сквозь пленку, фиксируются на флюоресцирующем экране. [35]
Различные положения изображения щели суммируются и запоминаются слоем. Между щелью и фотопластинкой помещается непрерывный нейтрально серый клин, градиент плотности которого лежит в направлении щели. Через определенный промежуток времени измерения на фотослое экспонируется поверхность, форма которой дает необходимую информацию о статистическом распределении измеряемой физической величины. Статистическое распределение получают из формы поверхности фотограммы, эк-виденсита которой имеет форму квадратной параболы. Путем трансформации эквиденсит получают картину функции рассеяния в простом логарифмическом представлении. Положение вершины параболы дает сведения о среднем значении, а ее параметры - о среднем колебании статистического гауссова распределения. Вместо механического движения щели можно с успехом применить осциллограф, на который измеряемый сигнал подается таким образом, что на экране возникает светящийся штрих, движущийся вдоль оси х в соответствии с колебанием измеряемой величины. Градиент клина здесь тоже должен проходить параллельно штриху. [36]
В этом случае изображение щели, спроектированное на поверхность исследуемого объекта, деформируется и представляет как бы в разрезе профиль поверхности. Наблюдая в визуальный тубус, увидим в плоскости сетки окуляра это деформированное изображение щели, показанное в верхней части рисунка. [37]
Так как на изображение щели на шлирен-диаграмме оказывает влияние дифракция, шлирен-пик при внимательном рассмотрении также содержит дифракционные полосы. Сейчас, однако, в шлирен-системах применяются не диафрагмы ( щели или наклонные струны), а фазовые пластинки, что позволяет более точно регистрировать шлирен-пик. Это прозрачная пластинка, наполовину покрытая слоем, создающим разность фаз в половину длины волны. Шлирен-диафрагмой в этом случае является линия границы между покрытой и свободной поверхностями пластинки. Образующаяся картина в этом случае по-прежнему содержит следы дифракции, однако изображение базальной линии при этом более четко, а побочные линии располагаются симметрично. Базаль-ная линия тоньше, что удобно для определения площадей и обнаружения конвекции. Ниже следует простое объяснение принципа работы фазовой пластинки. [38]
 |
Освещение по методу светлого поля в отраженном. [39] |
Микрообъектив 4 дает изображение щели в препарате 5, ограниченном плоскими поверхностями, где создается наибольшая концентрация света. Частицы видны на темном фоне как светлые точки. Этот метод дает возможность обнаруживать чрезвычайно мелкие частицы, размеры которых лежат далеко за пределами разрешающей способности микроскопа, так как поле получается совершенно темным. Такие частицы называют субмикроскопическими. [40]
При сплошном спектре изображение щели вытягивается в полосу, длина которой зависит от дисперсии прибора и интервала длин волн, излучаемых источником. [41]
 |
К объяснению уши-рения аппаратной функции при фотоэлектрической регистрации. [42] |
Такой же поворот изображения щели имеет место у всех спектральных приборов, в которых щель и ее изображение не лежат в одной плоскости главного сечения диспергирующего элемента. [43]
 |
Проявление астигматизма при щели конечной высоты. [44] |
В действительности образование изображения щели оказывается более сложным из-за кривизны ее изображения, кривизны астигматических отрезков ( см. [1.11]) и аберраций высших порядков. [45]
Страницы: 1 2 3 4 5