Электроннооптическое изображение

Cтраница 1

Преломление электронного луча сферическим электрическим. [1]

Электроннооптическое изображение при этом формируется за счет последовательного преломления электронного луча на расположенных друг за другом двойных слоях. [2]

Для формирования электроннооптического изображения используется система, состоящая из цилиндра с сеткой. [3]

Электронограф может работать как электронный микроскоп, позволяя получать теневые электроннооптические изображения в расходящемся пучке. [4]

Электроннооптическое изо-бражение точки, не лежащей на оси. [5]

Из сказанного выше следует, что электростатическое поле с вращательной симметрией создает правильное электроннооптическое изображение предмета, если используются только параксиальные электроны. [6]

В главе IV было показано, что в полях с вращательной симметрией можно получать правильные электроннооптические изображения плоского предмета при условии использования параксиальных электронов. Это условие приводит к необходимости применения очень узких электронных пучков и существенно ограничивает размеры поля изображения, так же как и величину предмета. Применение узких электронных пучков значительно снижает интенсивность электронного изображения. Поэтому с точки зрения практической электронной оптики желательно было бы отказаться от требования параксиальности электронов. [7]

Траектории электронов в электронном зеркале, состоящем из двух трубчатых электродов, при различных значениях потенциалов Vi и У % на электродах. [8]

Отсюда следует, что-электронные зеркала, так же как и электронные линзы, пригодны для получения правильных электроннооптических изображений. [9]

Таким образом, можно считать доказанным, что при С0 электростатическое и магнитное поля с симметрией вращения создают правильные электроннооптические изображения. [10]

Объекты больших толщин вызывают сильную хроматическую аберрацию, обусловливаемую появлением значительного количества неупруго рассеянных электронов, что снижает разрешающую способность образующегося электроннооптического изображения. Однако, с другой стороны, слишком тонкие или неплотные объекты не обеспечивают достаточной контрастности изображения. Вследствие этого для каждого типа объектов существует оптимальная толщина. Массивные же тела могут быть исследованы только с помощью косвенных методов. [11]

Сравнительно крупные некогерентные выделения карбидных или других фаз металлических сплавов, которые имеют более низкую симметрию решетки, либо имеют большой размер ячейки и характеризуются большим числом отражающих положений по сравнению с числом таких положений для типичных металлических решеток. Поэтому в электроннооптических изображениях частицы этих фаз обычно кажутся непрозрачными - темными в светлопольных изображениях. [12]

Электроннооптическое изображение кристаллической пластинки никеля, испускающей термоэлектроны в парах цезия. [13]

Метод термоионной эмиссии особенно пригоден для электроннооптического исследования распределения адсорбата, снижающего работу выхода с поверхности катализатора. В качестве примера на рис. 3 представлено приведенное в работе Шенка [31] электроннооптическое изображение кристаллической пластинки никеля, находящейся в парах цезия. [14]

Подобно тому как в оптике световых лучей центральное место занимают преломляющие среды, ограниченные поверхностями вращения с общей осью ( центрированные оптические системы), в электронной оптике основное внимание уделяется продольным полям с вращательной симметрией, играющим по отношению к заряженным частицам роль центрированных оптических систем. Бушем [218] в 1926 г., поля с симметрией вращения пригодны для получения правильных электроннооптических изображений, если только воспользоваться электронами, траектории которых лежат близко к оси симметрии поля, а направления скоростей образуют с ней малые углы. [15]

Страницы: 1 2