Уравнение - вульф
Cтраница 1
 |
Дифракция рентгеновских лучей в кристаллическом порошке NaCl. [1] |
Уравнение Вульфа - Брэгга (33.1) позволяет определить длину волны рентгеновских лучей по углу отражения &, если известна величина d - расстояние между соседними атомными плоскостями в кристалле. Эта величина может быть вычислена независимым путем следующим образом. [2]
О, удовлетворяющий уравнению Вульфа - Брэгга: 2cfeiii8 nk ( d - межилоскостное расстояние семейства кристаллографич. X - длина волны рентгеновских лучей), возникает луч, отраженный от этой системы плоскостей. Гейгера - Мюллера, Интенсивность отраженного пучка максимальна при отражении от главных кристаллографич. [3]
 |
Уравнение плоскости в отрезках. [4] |
Как уже говорилось, применение уравнения Вульфа - Брэгга позволяет рассматривать кристалл не как систему из атомов, дифрагирующих рентгеновские лучи, чем он действительно и является, а как систему атомных плоскостей, отражающих эти лучи. [5]
Параметры кристаллической решетки сна определяют-согласно уравнению Вульфа - Брегга, а размеры кристаллитов ( диаметр и высоту) - по уравнению Селякрва - Шеррера, полагая ( согласно 1236 ]), что они имеют форму цилиндров, высота которых меньше диаметра. Рентгеноструктурные характеристики измеряют на дифрактометрах типа УРС-БОИМ или ДРОН, снабженных сцинтилляционными счетчиками. [6]
Таким образом, выражение (11.6) является уравнением Вульфа - Брэгга для электронографии. [7]
 |
Малоугловые рентгенограммы от ориентированных полимеров. [8] |
Значение периодичности L, соответствующее дифракционным максимумам, определяются по уравнению Вульфа - Брегга, применительно к малым углам. [9]
Иначе говоря, от плоскости ( h k l) возникает рефлекс, подчиняющийся уравнению Вульфа - Брэгга. [10]
Как отмечалось выше, каждый кристаллит, в котором одно из семейств плоскостей удовлетворяет уравнению Вульфа - Брэгга, дает отраженный луч. Если размеры кристаллитов относительно невелики ( - 0 1 - - - j - 2 ц), то количество кристаллитов в объеме металла, участвующего в отражении, будет большим, как и общее количество пучков отраженных лучей. Следы их на пленке в этом случае сливаются в одну сплошную линию, ширина которой определяется геометрией съемки. [11]
 |
Схема рентгеновского анализа кристаллов методом вращения. [12] |
В результате мы получаем основное уравнение рентгеновского анализа: п л Id sin в - уравнение Вульфа - Брэгга. [13]
 |
К выводу формулы Вульфа - Брэгга. [14] |
Это уравнение почти одновременно с У. Л. Брэггом вывел русский ученый Г. В. Вульф, и поэтому оно получило название уравнения Вульфа - Брэгга. Уравнение Вульфа-Брэгга показывает, каким образом нужно ориентировать кристалл, чтобы можно было бы получить отражения от тех или иных атомных плоскостей. [15]
Страницы: 1 2 3