Cтраница 2
Существенным отличием плана испытаний при биномиальном распределении является целочисленный характер оценочных уровней. Это приводит к определенным ограничениям по точности подбора, а также оказывает влияние на процедуры вычисления параметров на ЭВМ. [16]
![]() |
Значения RI и Й2 при экспоненциальном законе.| Значения RI и RI при биномиальном законе. [17] |
Легко заметить, что величина j, необходимая для построения оценочных уровней при усечении, пропорциональна отношению отрезков на оси ординат, образованных точками пересечения линии несоответствия и продолжения линии соответствия с осью ординат. Поэтому задача построения оценочных уровней при усечении сводится к известной из элементарной геометрии задаче деления отрезка на части, пропорциональные двум заданным отрезкам. [18]
За заголовком следует раздел оценок, в котором приводятся названия оценочных уровней и количество баллов, необходимое для достижения этих уровней. Название уровня должно располагаться в одной строке. Признаком конца раздела оценок является точка, стоящая в начале строки. [19]
За заголовком следует раздел оценок, в котором приводятся названия оценочных уровней и количество баллов, необходимое для достижения этих уровней. Название уровня должно располагаться в одной строке. [20]
Необходимо уточнить, что погрешность в величине выходных параметров последовательных испытаний при использовании для оценочных уровней выражений (2.9), (2.10) вместо (2.7) и (2.8) появляется только из-за неточности величины А. Значение величины В, определенное по формуле (2.10), как отмечается в [4], является точным. Это подтверждается и многочисленными данными, полученными расчетным путем в настоящей книге. [21]
![]() |
Кодовые числа для с. [22] |
В каждой из строк таблицы плана испытаний размещены слева направо: количество отказов г, оценочные уровни Тг и т г соответственно при приеме и забраковании, вероятности окончания испытаний И ДА АО) при приемочном и V7r ( A AI) при браковочном уровнях наработки на отказ. [23]
Оказалось, что точное определение критериальных постоянных сопряжено с большими трудностями ( метод определения точных значений оценочных уровней при вальдовском критерии приводится в гл. [24]
Для ряда планов, на которые даются ссылки в примерах основного текста, приведены все значения оценочных уровней. [25]
![]() |
Зависимость средней продолжительности испытаний тср от А при критерии J и точном вальдовском ( пунктирная линия для а / 3 ОД и е T0 / Ti 1 5. [26] |
Другая существенная особенностью критерия J - наличие верхней границы для количества наблюдений, которая может быть установлена заранее при определении оценочных уровней. [27]
В книге рассмотрены многие теоретические вопросы по решению отмеченных проблем: приведены впервые разработанные автором и опубликованные [16, 23] методы расчета точных параметров и оценочных уровней экспоненциальных и биноминальных процедур любого вида, получены вальдовские планы с уточненными критериями [17, 23], предложены и опубликованы [18, 22, 24] планы невальдовского типа, включенные под именем автора в Государственные стандарты [31, 32], превосходящие по достоверности и экономичности контроля планы любого вида. Полученному ранее закону распределения Вальда [1, 21] присущи ограничения, часто неприемлемые в прикладных задачах. [28]
Особенности метода статистических испытаний при биномиальной последовательной процедуре определяются лишь моделью случайного процесса, связанного с появлением дефектов и определяемого в данном случае биномиальным распределением, а также особенностями вычисления оценочных уровней. [29]
Для некоторых кодов приведены таблицы плана испытаний, которые содержат количество отказов г от значений г 0 до г - R, при котором испытания завершаются с вероятностью, не меньшей 0 99; значения оценочных уровней при приеме тг и забраковании rnr, соответствующие каждому из значений количества отказов, предусмотренных планом; значения вероятностей окончания испытаний V ( r ро) и V ( r ро) при количестве отказов, меньшем г соответственно для приемочного и браковочного уровней доли дефектных изделий. [30]