Условие - вульф
Cтраница 3
В этом случае любая плоскость зоны даст отражение, так как для нее в пучке найдется луч, длина волны которого удовлетворяет условию Вульфа - Брегга. Осью этого конуса будет являться ось зоны, а одна из его образующих всегда совпадает с направлением первичного пучка. [31]
К методам типа а) относится метод Лауэ: на кристалл, ориентированный под определенным углом по отношению к лучу, падает пучок немонохроматического ( белого) излучения, в котором содержится непрерывный спектр длин волн, так что какая-то из волн, имеющихся в спектре, удовлетворяет условию Вульфа - Брэгга. Этот метод применяется для определения ориентировки и симметрии монокристаллов. [32]
Можно вращать ( или качать) кристалл, на который падает параллельный пучок лучей. При некоторых его положениях условия Вульфа - Брэгга удовлетворяются, и мы полу - Q - чим дифракционную картину. [33]
Можно вращать ( или качать) кристалл, на который падает параллельный пучок лучей. При некоторых его положениях условия Вульфа - Брэгга удовлетворяются, и мы полу - д чим дифракционную картину. [34]
Происхождение дополнительных пиков на ней легко понять из формального анализа условия Вульфа - Брэгга. [35]
Метод Дебая-Шеррера заключается в том, что поликристалл или мелкий порошок из монокристальных зерен освещается монохроматическим излучением. В множестве произвольно ориентированных монокристаллов всегда находятся такие, ориентировка которых отвечает условию Вульфа - Брэгга. [36]
 |
Схема съемки в спектрографе с плоским кристаллом. [37] |
Спектрограф с плоским кристаллом ( рис. 167, а) представляет собой цилиндрическую камеру, в центре которой укреплен кристалл, который может вращаться вокруг оси, параллельной его отражающей плоскости. Пучок лучей, излучаемый исследуемым веществом, попадая на кристалл при его определенном положении, удовлетворяющем условию Вульфа - Брэгга, дает отраженный луч, фиксируемый пленкой или ионизационным счетчиком. Если диафрагма, отражающая плоскость кристалла, и пленка ( ионизационный счетчик) расположены на одной окружности, то спектрограф будет фокусирующим. [38]
 |
Схематическое изображение прибора, работающего по методу Лауэ ( а, и дифракционной картины ( лауграм-1 ма ( б. [39] |
В методе порошка, или дсбаеграмм, используют монохроматическое рентгеновское излучение. Поскольку в порошке имеются кристаллы любой ориентации по отношению к лучу, всегда найдутся такие кристаллы, положение которых отвечает условию Вульфа - Брегга. Отраженные лучи образуют конус со строго определенным углом расхождения. При съемке рентгенограммы в методе порошка полоску фотопленки размещают вокруг образца ( в кассете) так, чтобы входящий рентгеновский луч пересекал ее по диаметру. В результате каждый конус отраженных лучей оставит на фотопленке засвеченный след в виде дужек ( рис. 5.7, б), симметрично расположенных относительно направления первичного луча. [40]
Расстояние между плоскостями кристалла с несложным строением можно вычислить независимым от дифракции рентгеновых лучей способом ( по плотности, атомному весу и числу Авогадро), зная число атомов в кубическом сантиметре. Угол, под которым возможно отражение от данной кристаллографической плоскости, связан с расстоянием между плоскостями простым геометрическим условием, включающим в себя длину волны ( условие Вульфа - Брэгга), так что по измерению угла отражения можно определить Длину волны рентгеновых лучей. [41]
Кювета с образцом устанавливается в специальном держателе гониометра. С включением аппарата образец и счетчик начинают поворачиваться с заданными скоростями в горизонтальной плоскости вокруг общей вертикальной оси гониометра; угол падения лучей на плоскость образца постепенно возрастает. При повороте образца часть отражающих плоскостей кристаллитов вещества проходит через положение, при котором выполняется условие Вульфа - Брэгга. [42]
Количественные ППФ обладают следующими недостатками. Все ориентировки зерен, которые различаются лишь поворотом вокруг нормали к отражающей плоскости hkl, дают на ППФ одну точку. Действительно, для того, чтобы произошло отражение рентгеновских лучей, достаточно, чтобы выполнилось условие Вульфа - Брэгга для плоскости ( hkl), но безразлично, как эта плоскость повернута вокруг нормали к ней. Кроме того, определение ориентировки кристаллитов требует специального анализа ППФ, который в случае сложных текстур с большим рассеянием ориентировок затруднителен и неоднозначен. [43]
Страницы: 1 2 3