Усреднение - интенсивность
Cтраница 1
Усреднение интенсивностей, вычисленных с использованием п-волновой дифракции, по толщине уже выполнено, но усреднение по диапазону углов падения является трудоемким. Существуют указания, что, когда интенсивности в дифракционной картине усреднены одним из двух этих способов или ими обоими, они отвечают картине пятен, которая характеризует кристаллическую структуру, но уже не связана с кинематической дифракцией. [1]
В формуле ( 1) усреднение интенсивности излучения должно быть произведено по всем направлениям в плоскости, перпендикулярной к направлению потока падающих частиц. [2]
Из сказанного следует, что оба способа усреднения интенсивности излучения по углам приводят к формулам, обладающим приблизительно одинаковой точностью. [3]
Еще один классический приближенный метод основан не на усреднении интенсивности, а на приближенном представлении интеграла по углу, хотя в сущности идея та же. [4]
В случае, когда в материале расположены дислокации, при усреднении интенсивности / ( qt) возможны различные ситуации, которые зависят от уровня и степгнн неоднородности искажений кристаллического строения, создаваемых этими дислокациями. [5]
Для решения уравнений переноса излучения в астрофизике весьма часто используется метод, основанный на усреднении интенсивности излучения по углам. [6]
В целом можно считать, что точечные электронные дифракционные картины от больших областей тонких кристаллических пленок представляют собой усреднение интенсивностей динамической дифракции но некоторому диапазону толщин и ориентации. [7]
 |
Пространственные распределения плотности потока колебательной энергии скваживного генератора в пласте мощностью Я 5 м. Частота. [8] |
На рис. 5.3.3 показаны кривые относительного изменения интенсивности упругих колебаний Е / Ео по глубине пласта, полученные усреднением интенсивностей полей по толщине пласта. Видно, что в области частот выше 1000 Гц кривые показывают монотонное и существенное уменьшение интенсивности колебаний с ростом расстояния от скважины в глубь призабойной зоны пласта. [9]
Интенсивность рефлексов на МДК сравнима с интенсивностью прямо прошедшего пучка, поэтому в результате взаимодействия последнего с дифрагированными пучками по мере прохождения их сквозь кристалл ( многократного рассеяния) происходит усреднение интенсивностей рефлексов. Вследствие этого затрудняется определение структурного фактора по относительным интенсивностям отражений с использованием обычных формул кинематической теории. [10]
Другие методы приближенно учитывали именно многократные рассеяния. Первые ( исторически) такие методы использовали усреднение интенсивности излучения по направлениям. [11]
 |
Влияние условий съемки спектрограмм на характер электрохимического выделения. / - съемка одного электрода. 2 - съемка двух электродов на одно место. 3 - съемка четырех электродов на одно место. [12] |
Так как фон на спектрограмме при этом растет слабо, эта простая операция позволяет существенно улучшить соотношение линия / фон и тем самым снизить предел обнаружения. Кроме того, при такой операции происходит усреднение интенсивностей спектральных линий. [13]
Кроме того, нестабильность источника возбуждения люминесценции, шумы регистрирующей установки и другие факторы при обычной фотоэлектрической регистрации спектров снижают точность анализа. В современном фотоэлектрическом методе для повышения точности проводят усреднение интенсивности линии за некоторый промежуток времени методом накопления заряда на конденсаторе. [14]
Во время съемки эталоны вращались со скоростью 50 об / мин для усреднения интенсивности по дебаевскому кольцу. Эталоны и пленки полиэтилена снимали в одинаковых условиях: при одном и том же режиме работы установки и при одинаковой толщине образца и эталона. [15]
Страницы: 1 2