Изучение - дифракционная картина
Cтраница 1
 |
Схема установки для наблюдения дифракции рентгеновских лучей. Р - рентгеновская трубка, Д - диафрагмы, К - кристалл, Э - экран. [1] |
Изучение дифракционной картины, полученной при использовании кристалла каменной соли, позволило определить длину волны рентгеновских лучей, так как расстояние между узлами этой кристаллической решетки было известно. Оказалось, что длина волны рентгеновских лучей, использованных в этом опыте, составляет несколько десятых долей нанометра. Таким образом, даже мягкие рентгеновские лучи имеют длины волн, в сотни и тысячи раз более короткие, чем у видимого света. [2]
Изучение дифракционной картины, полученной при использовании кристалла каменной соли, позволило определить длину волны рентгеновских лучей, так как расстояние между узлами этой кристаллической решетки было известно. Оказалось, что длина волны рентгеновских лучей, исиользованных в этом опыте, составляет несколько десятых долей нанометра. Дальнейшие исследования показали, что рентгеновские лучи имеют длину волны от 10 до 0 01 нм. Таким образом, даже мягкие рентгеновские лучи имеют длины волн в десятки и сотни раз более короткие, чем у видимого света. Отсюда ясно, почему нельзя было использовать дифракционные решетки: длины волн рентгеновских лучей слишком малы для них, и дифракция не возникает. [3]
Эти методы основаны на изучении дифракционной картины, которую получают в результате рассеивания исследуемым веществом рентгеновских лучей, электронов или нейтронов. Рентгеновские лучи рассеиваются на электронах, потоки электронов ( электронные лучи) - на электронах и ядрах атомов, а потоки нейтронов - на ядрах. При рассеивании на электронах определяемый электронный центр атома, как правило, практически совпадает с местоположением ядра. Впрочем, эти методы дают и другие представляющие интерес данные: например, рентгенография - распределение электронной плотности, характер упаковки молекул в кристаллах и даже молекулярные веса. Названные методы взаимно дополняют друг друга. Оба эти метода не дают удовлетворительных результатов при установлении координат атомов водорода, но для этой цели может с успехом служить нейтронография. [4]
Эти методы основаны на изучении дифракционной картины, которую получают в результате рассеивания исследуемым веществом рентгеновских лучей, электронов или нейтронов. Рентгеновские лучи рассеиваются на электронах, потоки электронов ( электронные лучи) - с-на электронах и ядрах атомов, а потоки нейтронов - на ядрах. При рассеивании на электронах определяемый электронный центр атома, как правило, практически совпадает с местоположением ядра. Названные методы взаимно дополняют друг друга. Оба эти метода не дают удовлетворительных результатов при установлении координат атомов водорода, но для этой цели может с успехом служить нейтронография. [5]
Электронографическое исследование состоит в изучении дифракционной картины ( электронная микродифракция), получаемой с поверхности данной фазы в результате взаимодействия атомов, входящих в состав этой фазы, с пучком электронов. Метод микродифракции является одним из наиболее эффективных методов определения фазового состава сплавов. [6]
Электронографическое исследование состоит в изучении дифракционной картины, получаемой с поверхности металлического образца в результате взаимодействия атомов металла с пучком электронов. [7]
Измерение дифракции рентгеновских лучей и изучение дифракционной картины от проходящих и отраженных пучков ( методы Ланга. [8]
Интересный вариант вытянутой р-формы цепи белков и полипептидов, известной как скрещенная р-форма [10], первоначально был открыт при изучении необычной дифракционной картины рентгеновских лучей этих биополимеров. На меридиане дифракционной картины обнаружен рефлекс, соответствующий межплоскостному расстоянию 4 7 А ( 0 47 нм), который можно связать с периодичностью вдоль оси волокна. Этот период относят к расстоянию между вытянутыми цепями ( или почти вытянутыми), которые связаны водородными связями. Следует ожидать, что в скрещенной р-форме цепи расположены перпендикулярно оси волокна. Это было подтверждено поляризационными спектрами: так полосы NH - и С 0-валентных колебаний обладали наибольшей интенсивностью, когда вектор излучения Е был направлен вдоль оси цепи. [9]
 |
Простейший фазовый [ IMAGE ] Изменение вида диф-объект. ракционного распределения интен. [10] |
При плавном изменении высоты ступеньки дифракционные картины ( рис. 1.1.2) периодически сменяются. Таким образом, изучение дифракционной картины от щели, на которую наложен прозрачный преломляющий объект, позволяет судить о соотношении оптических длин путей. [11]
Применение рентгеновского излучения для исследования кристаллических веществ основано на том, что его длина волны сопоставима с расстоянием между упорядоченно расположенными атомами в решетке кристаллов, которая для него является естественной дифракционной решеткой. Сущность рентгеновских методов анализа как раз и заключается в изучении дифракционной картины, получаемой при отражении рентгеновских лучей атомными плоскостями в структуре кристаллов. [12]
Под рентгенографическим анализом понимается совокупность разнообразных методов исследования, в которых используется дифракция рентгеновского излучения - поперечных электромагнитных колебаний с длиной волны 10 - 2 - 102 А. Применение рентгеновского излучения для исследования кристаллических веществ основано на том, что его длина волны сопоставима с расстоянием между упорядочение расположенными атомами в решетке кристаллов, которая для него является естественной дифракционной решеткой. Сущность рентгенографических методов анализа как раз и заключается в изучении дифракционной картины, получаемой при отражении рентгеновских лучей атомными плоскостями в структуре кристаллов. [13]
Под рентгенографическим анализом понимается совокупность разнообразных методов исследования, в которых используется дифракция рентгеновского излучения - поперечных электромагнитных колебаний с длиной волны 10 - 2 - 102 А. Применение рентгеновского излучения для исследования кристаллических веществ основано на том, что его длина волны сопоставима с расстоянием между упорядоченно расположенными атомами в решетке кристаллов, которая для него является естественной дифракционной решеткой. Сущность рентгенографических методов анализа как раз и заключается в изучении дифракционной картины, получаемой при отражении рентгеновских лучей атомными плоскостями в структуре кристаллов. [14]
Страницы: 1