Исследуемое устройство

Cтраница 2

Функциональная схема устройства для исследования преобразования поверхностных волн в объемные. [16]

Функциональная схема для исследования поля активным методом включает в себя источник излучения с контрольным трактом, исследуемое устройство, зонд с измерительным трактом и регистрирующую аппаратуру. В качестве зонда используется рупорная антенна с детектором, если требуется высокая чувствительность, или открытый конец волновода, если требуется повысить разрешение. Чтобы исключить явления переотражения, установку для исследования полей помещают в безэхо-вую камеру. [17]

Следовательно, соблюдение предполагаемой подвижности есть условие необходимое, но недостаточное, чтобы определить, является ли исследуемое устройство механизмом. [18]

Вещественная часть комплексного коэффициента передачи является его амплитудно-частотной характеристикой, показывающей, как проходят электрические колебания различных частот сквозь исследуемое устройство. Мнимая часть комплексного коэффициента передачи характеризует фазовые свойства корректирующего устройства. [19]

Структурная схема измерения шумовых параметров четырехполюсников методом. [20]

Структурная схема метода приведена на рис. 13.3. От измерительного генератора, работающего в режиме непрерывной генерации, через направленный ответвитель на исследуемое устройство подается опорный сигнал. В тракте промежуточной частоты измерительного приемника имеются ограничитель и частотный детектор. Второй детектор приемника по отношению к шумовому сигналу работает в смесительном режиме. Гетеродинным сигналом является опорный сигнал от измерительного генератора. При выключенном генераторе шума ( ГШ) отсчитывается показание выходного индикатора приемника. Включается генератор шума, изменением ослабления аттенюатора измерительного генератора увеличивается уровень опорного сигнала до получения прежнего показания индикатора. Разность двух отсчетов аттенюатора дает отношение сигналов на выходе четырехполюсника. [21]

Схемы управления лучЬм трубки. [22]

При этом исследуемый импульс не задерживают в канале вертикального отклонения, а строят так систему запуска, чтобы генератор развертки запускался немного раньше, чем исследуемое устройство. [23]

Структурная схема измерения температуры шума транзисторов. [24]

Структурная схема метода измерения температуры шума транзисторов приведена на рис. 13.12. При измерениях температуры шума СВЧ усилителей из схемы исключаются втулки питания и вместо держателей транзисторов включается исследуемое устройство. Схема измерения собирается из блоков, входящих в комплект приборов: индикатора Я8Х - 263, блока режимов Я8Х - 264, низкотемпературного и твердотельного генераторов шума, держателя транзисторов и втулок питания для подключения к измеряемым устройствам напряжений, согласующих и развязывающих устройств. [25]

При этом исследуемый импульс 1 не задерживают в кашле вертикального отклонения ( рис. 3.12 6), ia строят систему запуска так, чтобы либо генератор развертки запускался коротким импульсом 2 немного раньше, чем исследуемое устройство, либо при одновременном запуске использовалась задержка исследуемого импульса / относительно момента запуска в самом устройстве. [26]

В геометрических моделях ( рис. 3.44) синтезированного устройства ( табл. 3.8, ячейка 11) ВПВП и его модификаций ( табл. 3.10) известны длины двух сторон и углы а2 и о. Исследуемое устройство по набору исходных данных подобно устройству ВВПП, а поэтому выводы о свойствах его углов справедливы и для него. Анализ этих треугольников показывает, что все они не определены, а значит, их геометрическая модель не жесткая. [27]

Так как исследуемое устройство не является генератором, будут рассмотрены только стабильные решения. Резонанс наблюдается на частоте гетеродина. [28]

Размещение испытательных сигналов в интервале кадрового гасящего импульсп ( Н - длительность передачи одной строки. [29]

Длительность испытательного сигнала не должна превышать активной части строки. После прохождения через исследуемое устройство испытательный сигнал приобретает вид, показанный на рис. 11.56. По амплитуде его отдельных составляющих оценивается величина искажений на шести фиксированных частотах. [30]

Страницы: 1 2 3