Возможность - фокусировка - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Неудача - это разновидность удачи, которая не знает промаха. Законы Мерфи (еще...)

Возможность - фокусировка

Cтраница 1


Возможность фокусировки ультразвуко -: вых волн акустическими линзами, основанная на преломлении волн при переходе их из одной среды в другую, позволяет применить при ультразвуковой дефектоскопии акустическую оптику и получать действительное изображение внутренних дефектов.  [1]

Возможность относительно легкой фокусировки пучка электронов обеспечивает и высокую локальность по поверхности. Так, при достаточной яркости пучка диаметр зонда в десятки нанометров дает для тонких пленок тот же порядок локальности. В менее благоприятных случаях она составляет несколько микрометров, и продолжающееся совершенствование электронно-зондовой техники сдвигает эту границу в субмикронную область. Чувствительность электронно-зондовых методов к следам элементов является одной из наиболее высоких среди аналитических методов. При стандартной локальности порядка долей кубического микрометра предел обнаружения метода доходит до Ю-16-10 17 г, что позволяет определять ничтожные количества веществ. Характерной особенностью электронного зондирования является его экспрессность. Информация выдается непосредственно в ходе эксперимента, причем ее можно одновременно наблюдать на дисплее и фиксировать на записывающих устройствах. Совершенствование фототехники и применение компьютеров позволяет получать разнообразные сведения об объекте за короткий отрезок времени. Хотя взаимодействие электронного зонда с веществом может изменять электронную структуру последнего, несоизмеримость общей площади объекта и зоны облучения позволяет справедливо полагать, что в целом объект сохраняется неразрушенным и пригодным для дальнейших исследований.  [2]

Существенным ограничением методов оптической литографии является возможность фокусировки света. От этого недостатка свободны методы ионной и электронной литографии. Однако высокая энергия фокусируемых частиц приводит к нарушению поверхности используемых материалов, что и ограничивает разрешающую способность.  [3]

4 Принятая в Минске голограмма. [4]

При фотографировании объекта с переданной голограммы имелась возможность фокусировки на разные его плоскости, что свидетельствует о трехмерности воспроизведенного изображения.  [5]

По мнению специалистов электромагнитные методы обладают рядом преимуществ по сравнению с электроразведкой на постоянном токе: высокая помехозащищенность, возможность фокусировки поля на исследуемый горизонт, компактность установок, высокая разрешающая способность. Все это позволяет работать в условиях застройки с использованием, в основном, дипольных установок и искусственных источников электромагнитного поля.  [6]

Считая г2 / ( лХ) f фокусом системы, мы получаем формулу линзы. Возможность фокусировки излучения ( например, раскаленной нити электрической лампочки) легко проверяется при использовании зонной пластинки, просто изготовляемой фотографическим методом.  [7]

Буш доказал, что магнитное поле может действовать на электроны как линза на свет. Это открывало возможность фокусировки электронных пучков.  [8]

Катод в таких лампах сильно натягивается, что позволяет делать их вибропрочными. Достоинством стержневых ламп является простота конструкции, большая механическая прочность и возможность фокусировки электронного потока на пути от катода к аноду, что обеспечивает большой коэффициент токопрохожде-ния.  [9]

Замечательные свойства лазерного излучения, к которым относятся: высокие плотности энергии и мощности излучения, исключительно высокая направленность, возможность фокусировки излучения в пятно малого размера, широкий диапазон регулирования временных и энергетических параметров, превратили лазерный луч в уникальный по своим возможностям и надежный инструмент для выполнения различных технологических операций и научных исследований.  [10]

Вслед за [21] практически одновременно появились сообщения [22, 25-26, 28] об осуществлении топографической регистрации сфокусированных изображений диффузно отражающих предметов с использованием обычного внеосевого пучка, а также работа [23], в которой при регистрации голограммы сфокусированного изображения сферический опорный пучок подавался соосно с предметной волной. Роу-эена [24] рассмотрен случай, когда в роли объекта выступает его оптическое изображение, создаваемое линзой. Основное внимание в этой работе было уделено рассмотрению возможности фокусировки изображения объекта перед фотопластинкой и эа ней, а также пересечения изображения трехмерной сцены плоскостью голограммы с последующим восстановлением в монохроматическом излучении лазера. Интересна описанная в [24] ситуация, когда при восстановлении часть сцены наблюдается в виде действительного псевдоскопичного, а другая часть - в виде мнимого ортоско-пичного изображения. Принципиальной особенностью работ [26, 28] является использование на этапе восстановления источников белого света.  [11]

12 Фокусировка многомодового лазерного пучка тонкой линзой. [12]

Особенности технологической задачи определяют размер пятна, характеризуемый величинами Ъ и TO, в который необходимо фокусировать лазерное излучение. Например, при лазерной резке листовых материалов - это требуемая толщина 27о и глубина 26 реза. Из соотношения (4.118) видно также, что при данном объективе, возможность фокусировки излучения лазера целиком определяется качеством пучка.  [13]

Электроны, имеющие одноименный отрицательный заряд, стремятся оттолк-вуться друг от друга, поэтому пятно на экране не имеет четких границ. Что - Ч5ы вместо расплывчатого пятна получить светящуюся точку, электронный поток должен быть соответствующим образом сфокусирован. С этой целью на-напряжение на фокусирующий электрод Ф подают с движка переменного резистора R1, чем обеспечивается возможность плавной фокусировки луча.  [14]

Объект с помощью объектива освещается монохроматическим светом от лазера на парах меди. Отраженный от объекта свет проходит активную среду, усиливается и проектируется на экран. Особенностью микроскопа являются возможность фокусировки мощного лазерного излучения на любом элементе объекта и возможность осуществлять его коррекцию.  [15]



Страницы:      1    2