Cтраница 2
При изучении объекта в проходящем свете пучок световых лучей поступает снизу и, проходя через отверстие в предметном столике, освещает предмет, проходит через него и попадает в оптическую систему, расположенную в тубусе микроскопа. В этом случае осветительная система состоит из источника света ( это может быть свет дневной или искусственный, поступающий от соответствующих осветителей), двухстороннего зеркала ( плоского с одной стороны и вогнутого с другой), закрепленного в дугообразном вилкодержателе, собирательной линзы, называемой конденсором, над которой может быть помещена линза Лазо. [16]
При изучении объекта ( агрегата и процесса) должны быть также выявлены вес возможные управляющие воздействия, с помощью которых можно изменять значения выходных величин объекта. [17]
При изучении объекта исследования необходимо выделить для измерений физические величины, учитывая цель измерений, которая сводится к изучению или оценке каких-либо свойств объекта. [18]
При изучении объектов наблюдения, численность и характеристика которых непрерывно изменяются, устанавливается критическая дата, по состоянию на которую собираются сведения. При переписях обычно устанавливают время начала и время окончания регистрации данных. [19]
При изучении объектов предприятия, студент готовит себя к будущей профессиональной деятельности, возможно, на том же предприятии, где он проходит практику и одновременно собирает материал для дипломного проектирования. [20]
При изучении объектов наблюдения, численность и характеристика которых непрерывно изменяются, устанавливается критическая дата, по состоянию на которую собираются сведения. При переписях обычно устанавливают время начала и время окончания регистрации данных. [21]
![]() |
Структура объекта. [22] |
При изучении объекта ищут не любые связи между параметрами, а вполне определенные. Исследователя всегда интересует взаимосвязь между входами и выходами, так как именно она характеризует протекающий в объекте процесс. Однако установление этой связи нередко представляет собой весьма сложную задачу вследствие многофакторности и случайного характера возмущающих воздействий. Взаимосвязь между параметрами может осуществляться по различным каналам. Принято называть: х - у - основным каналом связи; - г / - каналом управления; z - у - каналом возмущения. Каждая из перечисленных выше групп параметров характеризуется вполне определенными их свойствами, которые необходимо учитывать при установлении картины связей в объекте. [23]
При изучении разнообразных коллоидно-химических объектов широко используют методы сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии. [24]
Поэтому для изучения объекта, как они полагают, можно ввести и терминологически три подхода соответственно указанным трем аспектам: элементный, структурный и системный. [25]
Иногда для изучения объекта применяют измерительные приборы или методы измерения, не используемые при нормальной эксплуатации установки. В этом случае структурная схема и математическая модель должны быть дополнены соответствующими элементами и связями. [26]
Моделирование - изучение объекта ( оригинала) путем создания и исследования его копии ( модели), замещающей оригинач с определенных сторон, интересующих познание. Модель всегда соответствует объекту-оригиналу в тех свойствах, которые подлежат изучению, но в то же время отличаются от него по ряду других признаков, что делает модель удобной для исследования изучаемого объекта. [27]
![]() |
Структурная схема иерархии САР, составляющих систему автоматического управления измельчительным агрегатом. [28] |
В результате изучения объекта как сложного управляемого процесса подтверждается высказанная гипотеза о необходимости оперативного управления внутримельничным заполнением - показателем, который наиболее близок к месту приложения возмущений. [29]
В процессе изучения объекта по мере уплотнения сетки скважин полуволны ( полупериоды) изменения признака разной длины и амплитуды вскрываются последовательно в соответствии с уменьшением расстояния между скважинами. Наблюдаемая закономерность в изменении признака выявляется постепенно по мере дополнения ее новыми полуволнами. Иначе говоря, закономерная составляющая общей изменчивости все время увеличивается Сумма полуволн, оставшихся невыявленными, входит в случайную составляющую общей изменчивости, которая все время уменьшается в долевом отношении за счет возрастания закономерной. Количественная оценка случайной составляющей изменчивости в любое время процесса разведки с вероятностных позиций дает представление о точности выявленных закономерностей изменения признака на этот момент. [30]