Cтраница 1
Изучение поверхности электродов и адсорбции на них методами ш situ обладает существенными преимуществами по сравнению с другими методами, причем в особенности привлекательны оптические методы. Благодаря им были достигнуты новые успехи в изучении поверхности электродов и электродных процессов. По этой причине мы сочли необходимым кратко рассмотреть физические основы некоторых широко применяемых методов, особенно связанных с изучением адсорбированных на электродах частиц, и интерпретацию типичных результатов, получаемых с их помощью, как например, при линейных потен-циодинамических измерениях в условиях, когда суммарный срарадеев-ский процесс и процесс заполнения поверхности ( например, атомами кислорода в анодных реакциях на благородных металлах) в некоторой области потенциалов протекают параллельно. Очевидно, что для изучения электродных процессов с промежуточными продуктами, не являющимися электроактивными в обычном смысле, т.е. таких, которые с трудом окисляются или восстанавливаются, необходимо применять неэлектрические методы. [1]
Для изучения поверхности электродов и явлений адсорбции используют оптические методы. Часть этих методов предназначена для исследования поверхностного слоя электродов, погруженных в раствор электролита и включенных в электрохимическую цепь. Таким образом получается информация о состоянии границы раздела фаз при заданном составе раствора и заданном потенциале электрода. К этим методам относятся эллипсометрический метод, а также методы обычного зеркального и неполного внутреннего отражения. Другая часть оптических методов изучения поверхности электродов требует удаления их из раствора, просушки и последующего исследования в глубоком вакууме. К этим методам относятся дифракция медленных электронов, Оже-спектроскопия, фотоэлектронная спектроскопия ( рентгеновский микроанализ), сканирующая электронная микроскопия и некоторые другие методы. [2]
Для изучения поверхностей электродов в последние годы использовались три основных оптических метода: эллипсометрия, спектроскопия нарушенного полного внутреннего отражения на поверхностях полупрозрачных пленочных электродов или на поверхностях проводящих стекол или окислов и спектроскопия зеркального отражения. Другие оптические методы основаны на абсорбции в пористых структурах из двуокиси кремния или глинозема с металлическим покрытием ( ср. [3]
Для изучения поверхности электродов и явлений адсорбции используют оптические методы. Часть этих методов предназначена для исследования поверхностного слоя электродов, погруженных в раствор электролита и включенных в электрохимическую цепь. Таким образом получается информация о состоянии границы раздела фаз при заданном составе раствора и заданном потенциале электрода. К этим методам относятся эллипсометрический метод, а также методы обычного зеркального и неполного внутреннего отражения. Другая часть оптических методов изучения поверхности электродов требует удаления их из раствора, просушки и последующего исследования в глубоком вакууме. К этим методам относятся дифракция медленных электронов, Оже-спектроскопия, фотоэлектронная спектроскопия ( рентгеновский микроанализ), сканирующая электронная микроскопия и некоторые другие методы. [4]
Оптические методы изучения поверхности электродов, находящихся в контакте с раствором, основаны на том, что свойства отраженного от поверхности электрода света зависят От состояния поверхностной электронной плазмы металла, а также от толщины и диэлектрических свойств адсорбционных слоев. [5]
Оптические методы изучения поверхности электродов, находящихся в контакте с раствором, основаны на том, что свойства отраженного от поверхности электрода светового излучения зависят не только от диэлектрических свойств раствора и металла, но также от толщины и диэлектрических свойств адсорбционных или тонких фазовых пленок. Указанная зависимость может быть установлена решением при соответствующих условиях уравнений Максвелла, описывающих распространение электромагнитных колебаний. [6]
AR от t в очень короткие промежутки времени. Такую возможность открывают оптические методы изучения поверхности электродов, однако к настоящему времени эта проблема остается открытой. [7]
Изучение поверхности электродов и адсорбции на них методами ш situ обладает существенными преимуществами по сравнению с другими методами, причем в особенности привлекательны оптические методы. Благодаря им были достигнуты новые успехи в изучении поверхности электродов и электродных процессов. По этой причине мы сочли необходимым кратко рассмотреть физические основы некоторых широко применяемых методов, особенно связанных с изучением адсорбированных на электродах частиц, и интерпретацию типичных результатов, получаемых с их помощью, как например, при линейных потен-циодинамических измерениях в условиях, когда суммарный срарадеев-ский процесс и процесс заполнения поверхности ( например, атомами кислорода в анодных реакциях на благородных металлах) в некоторой области потенциалов протекают параллельно. Очевидно, что для изучения электродных процессов с промежуточными продуктами, не являющимися электроактивными в обычном смысле, т.е. таких, которые с трудом окисляются или восстанавливаются, необходимо применять неэлектрические методы. [8]
По этой причине мы в первую очередь рассмотрим оптические и рентгеновские дифракционные методы, применимые к изучению электродных процессов. Начнем с эллипсометрии, имеющей особую ценность при изучении поверхности электрода, на которой происходит образование новой фазы. [9]
Для изучения поверхности электродов и явлений адсорбции используют оптические методы. Часть этих методов предназначена для исследования поверхностного слоя электродов, погруженных в раствор электролита и включенных в электрохимическую цепь. Таким образом получается информация о состоянии границы раздела фаз при заданном составе раствора и заданном потенциале электрода. К этим методам относятся эллипсометрический метод, а также методы обычного зеркального и неполного внутреннего отражения. Другая часть оптических методов изучения поверхности электродов требует удаления их из раствора, просушки и последующего исследования в глубоком вакууме. К этим методам относятся дифракция медленных электронов, Оже-спектроскопия, фотоэлектронная спектроскопия ( рентгеновский микроанализ), сканирующая электронная микроскопия и некоторые другие методы. [10]