Ухудшение - разрешающая способность
Cтраница 1
Ухудшение разрешающей способности и уменьшение угла отражения с ростом энергии нейтронов ограничивают область применения метода кристаллического монохроматора энергиями Т макс - 50 - f - 100 эв. [1]
Ухудшение разрешающей способности, вносимое выходным устройством, вызывается увеличением размеров элемента разрешения ( например, рисующего пятна в электроннолучевом индикаторе) по сравнению с потенциальным случаем. [2]
Ухудшение разрешающей способности может быть обусловлено и эффектами ближней зоны. Непараллельность стенок образца и неодинаковость толщины слоя смазки также приводят к изменению амплитуды импульсов многократных отражений. Аналогично и влияние неперпендикулярности пучка УЗК и резонансных эффектов на толщине образца. [3]
Частично ухудшение разрешающей способности колонок большого диаметра объясняется просто тем, что такие колонки трудна равномерно заполнить носителем. Поэтому следует отдавать предпочтение колонкам настолько малого диаметра, насколько это возможно в данной конкретной ситуации. Это уравновешивает действия всех противоположно направленных факторов. [4]
Эти кривые иллюстрируют ухудшение разрешающей способности при резком ограничении спектра. [5]
Сх - С3, без ухудшения разрешающей способности, что очень важно при использовании газохроматографического анализа для автоматического контроля в химической промышленности и особенно для регулирования химических процессов. [7]
 |
Блок-схема триггера для определения времени опрокидывания. [8] |
Иногда это обстоятельство трактуют как ухудшение разрешающей способности спусковой схемы при увеличении емкости С. [9]
 |
Хроматограммы разделения смеси углеводородных газов. [10] |
Льно, уменьшить время анализа без ухудшения разрешающей способности. [11]
Причиной этого является, очевидно, ухудшение разрешающей способности в угловых участках изображения, которое неизбежно возникает при искажении поля отклоняющего устройства. [12]
Существуют способы анализа спектров, позволяющие без ухудшения разрешающей способности уменьшить время анализа. Первый состоит в автоматическом управлении скоростью перестройки гетеродина, другой - в преобразовании исследуемого сигнала во времени, сжатии во времени. [13]
В первом случае при работе с одним щупом ухудшение разрешающей способности объясняется формой и величиной пиков на экране электронно-лучевой трубки. Широкие, размытые тики, расположенные близко друг от друга, да еще при наличии мешающих шумов усилительных устройств, не позволяют разглядеть их отдельно на - экране трубки. Наоборот, острые узкие по форме и большие по амплитуде пики позволяют хорошо различать-их друг от друга, благодаря чему разрешающая способность дефектоскопа повышается. [14]
Во втором случае при работе с двумя щупами ухудшение разрешающей способности объясняется еще и мертвым пространством ( рис. 3 - 44), которое образуется между прямым и отраженным пучками ультразвуковых волн, у поверхности контролируемого1 изделия. [15]
Страницы: 1 2 3 4 5