Cтраница 2
Часто нет необходимости получать на экране проекцию контролируемого изделия в целом. Разработана схема проектора, в котором на экране проецируются отдельные участки объекта измерения, подлежащие контролю. В этом проекторе главное зеркало заменено набором узких зеркальных пластин, проецирующих на экран только измеряемые участки контура объекта. [16]
Хотя метод муара и прямое исследование кристаллических решеток начали интенсивно развиваться совсем недавно, оба эти направленияследует считать весьмаперспективными, так как они позволяют получать сведения относительно тонкой структуры реальных кристаллов. При этом сохраняется важное преимущество электронной микроскопии: получаемые данные относятся к отдельным участкам объекта, а не носят усредненный характер, как это имеет место при использовании метода дифракции электронов или рентгеновских лучей. Более подробно этот метод будет изложен во второй части. [17]
Таким образом можно утверждать, что основным условием сохранения правильной передачи размеров и формы объектов в электронном микроскопе является недопустимость чрезмерного его нагревания. Поэтому нужно избегать повышения яркости изображения за счет излишнего увеличения тока электронного пучка. Просмотр объекта желательно проводить при пониженной яркости, увеличивая ее лишь на время фотографирования. По возможности следует сокращать также и время наблюдения. Фотографирование целесообразно производить при меньшем увеличении, но большем поле зрения, что дает возможность затем при оптическом увеличении полученных негативов детально рассмотреть отдельные участки объекта. Кроме того, с понижением увеличения в квадрате увеличивается яркость электронного изображения ( при постоянной мощности облучения объекта), что дает возможность, следовательно, работать при меньших плотностях тока. [18]