Участок - покрытие
Cтраница 4
При нагружении покрытие отделяется по всей боковой поверхности основного металла. В случае плоских образцов ( рис. 4.12, б) покрытие наносится на отдельные участки при помощи маски. Нож 2 под действием усилия Р срезает участок покрытия 1 по всей площади его контактирования с основным металлом 3 за один проход. [46]
Под воздействием смывки пленка растворяется или в случае необратимых покрытий набухает и сморщивается. После достаточного вспучивания покрытия приступают к его удалению. Щетку замачивают в смывке и протирают ею набухший участок покрытия. Одновременно сдвигают его с места. Очищенную поверхность протирают хлопчатобумажными салфетками, смоченными уайт-спиритом для удаления остатков покрытия и парафина, содержащегося в смывке. Если на отдельных участках покрытие не отстает от поверхности, то операции смачивания смывкой и протирки щеткой повторяют. [47]
К ним относятся в основном поверхностные волны, отражающиеся от узлов крепления антенны с покрытиями. Практической иллюстрацией этого метода может служить схема, изображенная на рис, 4.15. Исследуемое диэлектрическое покрытие 1 ( например, цилиндрическое) закрепляется с помощью механизмов крепления ( модуляторов) 4 и имеет возможность поворачиваться вокруг своей оси; передающая 3 и приемная 2 антенны совершают поступательные движения параллельно оси покрытия, находясь все время на одно м и том же расстоянии от его поверхности. Таким образом, происходит измерение характеристик каждого участка покрытия. Вследствие этого происходит модуляция поверхностных волн. [48]
Для определения твердости контрольный образец устанавливают на столик микротвердомера. Осветитель включают в электрическую сеть. Измерительный микроскоп микротвердоме ра фокусируют на поверхности участка покрытия, выбранного для испытания. Плавно, без толчков поворачивают столик с контрольным образцом на 180 до упора; На шток индикатора устанавливают груз. Плавно поворачивая рукоятку механизма нагружения микротвердомера, опускают груз с индикатором на испытываемый участок покрытия. Индикатор выдерживают на поверхности образца под нагрузкой 9в 5 с. Затем, плавно поворачивая рукоятку механизма нагружения в обратном направлении, поднимают индикатор. Столик поворачивают в исходное положение. [49]
 |
Схема контрольных цепей для измерения сопротивления изоляционного покрытия трубы. [50] |
Во время испытания сопротивления изоляции антикоррозионного покрытия трубы к двум подводящим лровпдам вблизи средней части трубы присоединяется милливольтметр чувствительностью до 0 1 мв и отмечается изменение падения напряже - Н Ия на трубе. Произведение падения напряжения на проводимость трубы равно току в трубе. Этот ток представляет собой ток утечки, текущий через участок покрытия, расположенный за пределами подводящих проводов. Путем этого измерения и измерения сопротивления изоляции покрытия имеется возможность измерить сопротивление изоляции покрытия двух участков кабельной трубы и полученные данные сравнить между собой. [51]
Ял естных фюичсекпл закономерностей ( табл. 6), Косвенный контроль толщины оптически прозрачных покрытий ко-жет быть осуществлен также по цвету пленки при наблюдении ее в отраженном или проходящем свете. Косвенным неразрушающим методом контроля является гравиметрический метод, основанный на взвешивании детали до и после нанесения покрытия и определении толщины пленки исходя из площади поверхности и плотности покрытия. К разрушающим методам контроля толщины покрытий относят: 1) металлографический, при котором толщину покрытия определяют с помощью измерительных микроскопов па поперечных срезах-шлифах; 2) метод хорды, состоящий в том, что мелкозернистым шлифовальным кругом с известным радиусом производят зачистку ( надрез) покрытия до появления подложки и затем, измерив ширину среза, вычисляют толщину покрытия; 3) струйный и капельный методы состоящие в определении времени или объема раствора, необходимого для растворения исследуемого покрытия и покрытия известной толщины; 4) ку-лонометрнческий метод, основанный на определении времени при анодном растворении участка покрытия под действием стабилизированного тока в соответствующем электролите. [52]
Если наблюдать спектр от электрического разряда, воздействующего на изделие, имеющее металлическое покрытие, то время, протекающее от включения разряда до появления спектральных линий основы изделия, зависит от толщины покрытия. Между испытуемым изделием, толщина покрытия которого должна быть измерена, и постоянным стержневым электродом, заточенным на острие и имеющим состав, отличный от состава изделия, создается разряд низковольтной искры или дуги с малым током. Одновременно с включением разряда начинается отсчет времени по секундомеру, и в окуляр стплоскопа ведется наблюдение за спектральной линией, принадлежащей материалу основы. Появление ее указывает на разрушение разрядом некоторого участка покрытия. Когда интенсивность выбранной линии спектра основы становится равной интенсивности другой выбранной линии, принадлежащей спектру материала покрытия или постоянного электрода, отсчет времени заканчивается. Найденное таким образом время служит мерой толщины покрытия. [53]
Страницы: 1 2 3 4