Небольшой участок - поверхность
Cтраница 3
Диоды и другие микроминиатюрные полупроводниковые изделия обычно не могут быть непосредственно проанализированы на масс-спектрометре, так как невозможно добиться того, чтобы электрический разряд в вакууме воздействовал лишь на небольшой участок поверхности пробы. Поэтому мелкие детали извлекают из прибора и помещают в ионный источник. Геометрия и размеры держателей зависят в основном от конфигурации образцов, а выбор материала держателей определяется характером аналитической задачи. Во всех случаях этот материал должен легко обрабатываться, быть химически неактивным, жестким, проводящим или полупроводящим и, по возможности, чистым. Желательно также, чтобы спектр масс материала держателей имел простую структуру. Этим условиям лучше всего отвечают малоизотопные вещества, так как линии их многозарядных и многоатомных ионов перекрывают небольшое число линий спектра пробы. На практике для этой цели чаще всего используют графит, индий, золото, кремний, платину. [31]
Возбуждение небольшого участка поверхности отражателя складывается из всех приходящих в эту точку элементарных волн излучателя с учетом их амплитуды и фазы. В приведенной выше оптической модели фаза не играет никакой роли. Определив таким способом возбуждение всех элементов поверхности отражателя, далее нужно провести такое же суммирование всех элементарных волн от отражателя к элементу поверхности приемника. [32]
Если мы рассмотрим небольшой участок поверхности раздела двух несмешивающихся жидкостей или жидкости и твердого тела, то конвекция перпендикулярно к этой поверхности должна исчезнуть, так как линии тока жидкости располагаются параллельно рассматриваемой части поверхности. Таким образом, теплопередача осуществляется там лишь с помощью процесса, аналогичного внешней теплопроводности с поверхности твердого тела. ХШ, § 1 ], причем величину h - назовем ее здесь коэффициентом теплопередачи - следует рассматривать как характерную достоянную для двух данных жидкостей. [33]
Профиль скоростей типа рис. 28, а не может иметь места, если скорость жидкости вне пограничного слоя уменьшается вниз по течению; в этом случае профиль скоростей непременно должен иметь точку перегиба. Действительно, рассмотрим небольшой участок поверхности стенки, который можно считать плоским, и пусть х есть опять продольная координата вдоль направления течения, а у-расстояние от стенки. [34]
Профиль скоростей типа рис. 28 а не может иметь места, если скорость жидкости вне пограничного слоя уменьшается вниз по течению; в этом случае профиль скоростей непременно должен иметь точку перегиба. Действительно, рассмотрим небольшой участок поверхности стенки, который можно считать плоским, и пусть х есть опять продольная координата вдоль направления течения, а у - расстояние от стенки. [35]
Профиль скоростей типа рис. 28, а не может иметь места, если скорость жидкости вне пограничного слоя уменьшается вниз по течению; в этом случае профиль скоростей непременно должен иметь точку перегиба. Действительно, рассмотрим небольшой участок поверхности стенки, который можно считать плоским, и пусть х есть опять продольная координата вдоль направления течения, а у - расстояние от стенки. [36]
Профиль скоростей типа рис. 28, а не может иметь места, если скорость жидкости вне пограничного слоя уменьшается вниз по течению; в этом случае профиль скоростей непременно должен иметь точку перегиба. Действительно, рассмотрим небольшой участок поверхности стенки, который можно считать плоским, и пусть х есть опять продольная координата вдоль направления течения, ay - расстояние от стенки. [37]
 |
Твердость абразивного инструмента.| Объемное содержание зерен в абразивных инструментах различных структур. [38] |
Твердость абразивного инструмента определяют следующим образом. Механическим воздействием разрушают небольшой участок поверхности проверяемого инструмента. Показателем твердости считают величину разрушения - глубину лунки или отпечатка. Твердость абразивного инструмента характеризуется совместным сопротивлением зерен и связки приложенным внешним силам. [39]
Испытания проводят на свежеочищенной поверхности. Для этого с небольшого участка поверхности испытуемого объекта ножом или напильником снимают поверхностный слой и удаляют механические загрязнения. Затем очищенный участок протирают тряпкой, смоченной бензином, вытирают сухой тряпкой, очищают наждачной бумагой и еще раз протирают чистой сухой тряпкой или ватой. [40]
В этом случае каждый небольшой участок поверхности попадает последовательно в зону действий горелки и охладителя н получает закалку. Одним из примеров обработки по этому варианту является закалка в один оборот, которая часто применяется, например, для шеек коленчатых валов. [41]
Эту колонку изготовляют следующим образом. Размягчают на стеклянной трубке небольшой участок поверхности и продавливают его острым инструментом по направлению к оси трубки с помощью заостренного куска проволоки. Затем трубку поворачивают на 180 и операцию повторяют. Наколку делают обычно так, что образующиеся иглы имеют некоторый наклон вниз, если трубка стоит вертикально. Расстояние между основанием игл равно обычно от четверти до трети диаметра трубки. Операцию повторяют до тех пор, пока ректифицирующая часть не будет наколота по всей длине. [42]
В прямой связи с мощностью, выделяемой в канале искры, находится мощность, выделяемая на той части поверхности электрода, на которую опирается канал искры. Здесь происходит локальный разогрев очень небольшого участка поверхности, из которого вырывается факел, представляющий собой струю раскаленных паров электрода. Именно эта температура определяет характер возбуждения спектральных линий в плазме. [43]
 |
Аплапатические точки системы.| К выводу условия синусов. [44] |
Пусть для какой-нибудь точки S ( рис. 13.9), лежащей на оптической оси, устранена сферическая аберрация, так что S отображается в S резко, несмотря на применение широких пучков. Отсюда еще не следует, что небольшой участок поверхности а, проходящий через S и перпендикулярный к оси, будет изображаться резко и без искажений. Для такого правильного изображения необходимо, чтобы различные зоны системы давали одно и то же увеличение. В противном случае точки участка, не лежащие на оси, будут изображаться различными частями нашего широкого пучка на различных расстояниях от оси, т.е. для этих внеосевых точек нашего элемента не будет сохраняться стигматичность изображения. [45]
Страницы: 1 2 3 4 5