Cтраница 2
Таким образом, если прогнозирование добычи осуществляется по небольшому числу скважин и скважины разнодебитные, то при вводе в разработку в пределах анализируемого участка в прогнозном периоде новых скважин или выбытии скважин корректировку ожидаемой добычи на новые скважины следует проводить в обязательном порядке. [16]
При этом перекрестие визира 13 должно совпадать с началом координат на профйлограмме 14, т.е. с крайней левой точкой на средней линии анализируемого участка профиля. [17]
Проанализировав решения линеаризованных уравнений движения газа с различными граничными условиями, можно показать, что погрешность осреднения по длине и по времени максимальна, если на концах анализируемого участка заданы расходы. [18]
Из инструментальных методов химического анализа вещества методы, основанные на анализе взаимодействия электронов с веществом, имеют одну общую особенность: электронная оптика фокусирует электронные пучки, падающие на материал, и тем самым ограничивает анализируемый участок материала. [19]
Локальность анализа по объему составляет несколько кубических микрометров. Анализируемый участок поверхности выбирают, наблюдая изображение объекта в лучах видимого света или во вторичных, отраженных или поглощенных электронах. [20]
Современные приборы для МРА представляют собой растровые электронные микроскопы, оснащенные анализаторами рентгеновского излучения. Анализируемый участок поверхности выбирают, наблюдая изображение объекта во вторичных, отраженных или поглощенных электронах. Кроме анализа в точке растровая система позволяет получить распределение интенсивности излучения данного элемента вдоль выбранного направления на поверхности образца. Это делает метод МРА особенно полезным для контроля за концентрационными профилями катализаторов, получаемых пропиткой носителей растворами соединений каталитически активных элементов. Как известно, свойства таких катализаторов заметно зависят от равномерности распределения активных компонентов по зерну. Установить характер распределения элементов, концентрация которых составляет доли процента, другими методами анализа чрезвычайно сложно. [21]
При осреднении по ансамблю регулярное изменение реализаций из-за изменения a ( t) и b ( t) существенно скажется на характеристиках случайного процесса, измеренных в разное время, и случайный процесс будет отнесен к нестационарным. При осреднении во времени, когда длительность анализируемого участка реализации Т много больше Та и Ть ( быстрые нестационарности), изменения a ( t) и b ( i) мало влияют на оценки характеристик случайного процесса и реализация НСП будет отнесена к стационарным. [22]
На рис. 11.10 и 11.11 соответственно показано схематически положение на шлифе анализируемого участка и его увеличенное изображение, получаемое на экране микроскопа. [23]
Электрическое состояние каждого элемента участка цепи наглядно представляют в виде потенциальнойдиаграммы. На такой диаграмме вдоль оси абсцисс откладываются последовательно значения сопротивлений между каждой парой соседних точек схемы анализируемого участка цепи, а по оси ординат - потенциалы этих точек. [24]
Поскольку поверхностные слои образца имеют обычно иной по сравнению, с объемом состав, в практике масс-спектрометри-ческого анализа обычно применяют предварительное обыскривание. В случае реакционно-активных материалов, несмотря на меры предосторожности, предпринимаемые при отборе и обработке проб, желательно обыскрить анализируемый участок поверхности. [25]
При анализе по точкам имеется возможность для каждого определяемого элемента в зависимости от его концентрации в исследуемом микрообъеме, подбирая необходимое время счета импульсов, обеспечить проведение количественных определений с заданной точностью. При анализе неметаллических включений и фазовых составляющих, даже при методически правильном его выполнении, часто могут появляться трудно определяемые источники ошибок. Обычное требование к размерам анализируемого участка ( 5 мкм) является необходимым, но не достаточным. [26]
Для того чтобы избежать грубых ошибок, процедуру определения каждого коэффициента Фурье выполняют 2 раза, и если две полученные разности отсчетов по планиметрам отличаются друг от друга не более чем на 5 единиц, то коэффициент Фурье определяют по среднему значению из двух полученных разностей отсчетов по планиметру. Если же они отличаются больше, чем на 5 единиц, то процедуру выполняют в третий раз, а расчет ведут по средней из двух достаточно близких разностей. Если ось абсцисс не совпадает со средней линией профиля, то нулевой член разложения а0 определяют посредством планиметра без применения анализатора: обводят штифтом планиметра профиль, возвращают штифт в начальное положение и полученную разность конечного и начального отсчетов делят на длину анализируемого участка. [27]