Изучение - структура - кристалл
Cтраница 1
Изучение структуры кристаллов при помощи рентгеновских лучей доказывает, что в реальных кристаллах имеются определенные отклонения от идеально правильного расположения отдельных атомов. [1]
 |
Расположение атомов ( проекция на плоскость. Элементарная ячейка представляет собой квадрат. Малые атомы имеют координаты О О, большие У2 V2. [2] |
Метод изучения структуры кристаллов при помощи дифракции рентгеновских лучей, разработанный в 1912 г. немецким физиком Максом фон Лауэ ( 1879 - 1960) и усовершенствованный английскими физиками У. Г. Брэггом ( 1862 - 1942) и У. Л. Брэггом ( 1890), позволил получить весьма ценные результаты, особенно за последние десятилетия. Очень многие сведения о молекулярной структуре, приводимые на страницах данной книги, получены благодаря применению метода дифракции рентгеновских лучей. [3]
При изучении структуры кристаллов определяют расстояния между ближайшими атомами или ионами разных знаков. Предполагая ( ради удобства и наглядности), что атомы или ионы обладают формой шара, измеренные межатомные расстояния между соседними атомами принимают за сумму радиусов атомов-шаров. Если бы атомы или ионы представляли собой бесструктурные шары, то их взаимодействие зависело бы только от их зарядов и размеров. Однако при взаимодействии элементов существенное значение имеет структура электронных оболочек у реагирующих атомов, поэтому понятие атомный диаметр физически гораздо сложнее. [4]
При изучении структуры кристаллов № ( МН3) 3 ( МС5) 2 дифференциальный синтез был применен кпроекции электронной плотности на плоскость XY. При наличии 250 независимых отражений hkO и симметрии pgg обычный метод построения проекции при помощи штрипсов потребовал бы приблизительно 35 часов расчетной работы. Таким образом, на один цикл уточнения при ручной работе требуется в этом случае около 70 часов. [5]
При изучении структур кристаллов элементарных веществ можно вывести атомные радиусы согласно экспериментально определенным межатомным расстояниям. [6]
В части 6 приводятся результаты изучения структуры кристаллов и молекул фторидов и трехокиси ксенона, а также молекулярного соединения XeF2 XeF4 методами рентгене -, нейтроно - и электронографии. Авторы не без юмора отмечают, что структура, а также расстояние и углы между атомами в кристаллах таких достаточно экзотических соединений, как фториды ксенона, определены с гораздо большей точностью и тщательностью, чем для множества обычных соединений. [7]
 |
Двумерные сечения плоскостей, проведенных через узлы решетки. [8] |
Как уже отмечалось, основной метод изучения структуры кристаллов - рентгенография, дополняемая нейтронографией. Длина волны рентгеновского излучения меньше межатомных расстояний в кристалле ( Ю-8 см), так что кристалл служит для рентгеновских лучей дифракционной решеткой. [9]
Уже много лет дифракция рентгеновских лучей используется для изучения структуры кристаллов. [10]
В ряде случаев знание структуры молекул представляет интерес для изучения структуры кристаллов. Это относится к гидратам, перекисям, карбонилам, к другим неорганическим веществам, кристаллы которых построены из молекул, и ко всем кристаллам органических веществ. [11]
Рентгеноструктурный анализ, который стал применяться ( начиная с 20 - х годов) для изучения структуры кристаллов различных комплексных соединений, подтвердил основные положения координационной теории. Данные рентгеноструктурных исследований убедительно говорили. [12]
Этот метод анализа кристаллов был впервые разработан Дебаем, Шерером и Хэллом и является одним из наиболее распространенных методов изучения структуры кристаллов. [13]
Определение малых частот колебаний твердых и жидких тел по спектрам поглощения в длинноволновой инфракрасной области спектра позволяет более глубоко проникнуть в изучение структуры кристаллов, природы жидкого состояния и межмолекулярных взаимодействий. Это дает возможность выяснить некоторые электрические свойства диэлектриков и полупроводников. [14]
В кристаллах довольно интенсивное когерентное рассеяние может быть только в определенных направлениях при интерференции волн рассеянных фотонов. Это явление лежит в основе изучения структуры кристаллов с помощью дифракции рентгеновского излучения. [15]
Страницы: 1 2 3