Изучение - структура - пленка
Cтраница 1
Изучение структуры пленок свидетельствует о том, что, за исключением рядов дислокаций, концентрация других несовершенств в них мала. [1]
Изучение структуры пленок на гранях ( 111) и ( 100) GaAs показывает, что плотность дефектов возрастает с ростом доли мышьяка. Избыток мышьяка можно рассматривать как примесь, которая адсорбируется на поверхности растущего кристалла и приводит к возникновению дефектов. [2]
Предварительные результаты изучения структуры пленок на поверхностях ( 211) и ( 110) подтвердили сильную ориентацион-ную зависимость морфологии растущих слоев. [3]
Электрические методы используют для изучения структуры пленок, а также для исследования химических реакций в них. В этом методе полярные молекулы рассматривают как диполи, а пленку - как электрический плоский конденсатор. Электрический вектор диполя направлен вдоль геометрической оси длинно-цепочечной молекулы. [4]
Электрические методы используют для изучения структуры пленок, а также для исследования химических реакций в них. В этом методе полярные молекулы рассматривают как диполи, а пленку - как электрический плоский конденсатор. Электрический вектор диполя направлен вдоль геометрической оси длинноцепочечной молекулы. [5]
Электрические методы используют для изучения структуры пленок, а также для исследования химических реакций в них. В этом методе полярные молекулы рассматривают как диполи, а пленку - как электрический плоский конденсатор. Электрический вектор диполя направлен вдоль геометрической оси длинно-цепочечной молекулы. [6]
Рентгеновский метод также применялся для изучения структуры пленок; он особенно пригоден для сравнения ориентировки между окисью и металлом. Мел, Мак Кендлс и Райнс 4, например, нашли, что атомы в пленке закиси, полученной на железе, расположены в простом кристаллографическом отношении к атомам металлического основания. Если закись железа разлагается, образуя магнетит, ориентация-соотношение распространяется я на Последний. При снятии пленок на никелевую сетку ориентировка теряется, хотя химический состав остается без изменений. [7]
 |
Зависимость плотности дефектов упаковки от условий роста ( скорость роста изменяли, регулируя концен - подложки. Вместе с тем, как и при росте. [8] |
Еще одно различие выявляется при сопоставлении, с одной стороны, результатов Букера и др. по изучению структуры пленок кремния, выращенных по силановому процессу [154] и при вакуумной конденсации [186], и, с другой, данных рассмотренной в разд. [9]
Определить количество образовавшегося окисла можно также, отделив и исследовав образовавшуюся окисную пленку. Кроме толщины и химического состава окисной пленки может быть изучена структура, что позволяет установить механизм роста окисла. Для изучения структуры пленки применяют металлографические, эле-ктронографические - и рентгеноструктурные методы. [10]
При указанных условиях скорость роста составляла 0 1 мк / мин. Изучение структуры пленок рентгеновским методом и химическим травлением свидетельствует о их высоком кристаллическом совершенстве. Плотность ямок травления на поверхностях пленки и подложки приблизительно одинакова. [11]
В тех случаях, когда взаимодействие продуктов разрушения с кислотой ведет к образованию легкорастворимых соединений, рост пленки идет быстрее. Например, при взаимодействии стекла, содержащего большое количество окислов свинца при одинаковом значении рН раствора, наблюдается значительно более интенсивный рост пленки в растворах азотной, чем в растворах серной кислот. Специфическое действие различных минеральных кислот на стекла разного состава сказывается не только на скорости образования поверхностного слоя, но и на его структуре. В растворах уксусной, щавелевой и соляной кислот при почти одинаковой концентрации ионов водорода образуются поверхностные кремнеземистые пленки различной пористости. Взаимодействие стекол с растворами слабых кислот приводит к образованию тонкопористых пленок, а при взаимодействии с кислотами, со значительной степенью диссоциации образуются крупнопористые пленки. При изучении структуры пленок адсорбционным методом [46] с помощью изотерм адсорбции воды на порошке оптического стекла БФ17 после обработки его растворами уксусной, щавелевой и соляной кислот ( при рН 3 33 - 3 40), установлена четкая зависимость размеров пор поверхностного слоя от силы кислот. [12]
Страницы: 1