Cтраница 1
Изучение структуры вещества магнитными методами основано на определении намагниченности тел / под влиянием магнитного поля напряженности Н и магнитной восприимчивости данного вещества. [1]
Для изучения структуры веществ и дисперсных систем, слагающих угли, и ее превращений используют методы и законы классической, физической химии и разрабатывают новые специальные методы. [2]
Метод изучения структуры вещества с помощью наблюдения дифракции электронов называется электронографией. [3]
Электронография является методом изучения структуры веществ. Наряду с рентгеновским анализом электронография применяется для изучения строения химических соединений и различных химических процессов. [4]
Таким образом, возможность изучения структуры веществ в твердом состоянии появилась сравнительно поздно, и это не могло не отразиться на ходе развития неорганической химии. [5]
Среди методов, используемых для изучения структуры веществ, лишь немногие находят такое широкое применение и открывают многообещающие перспективы, как хроматографический анализ. [6]
Тесно связан с рентгенографией способ изучения структуры вещества с помощью электронных лучей. Явление дифракции электронов, проходящих сквозь кристалл, подобно явлению дифракции рентгеновских лучей, но электронные лучи взаимодействуют с атомами кристаллической решетки гораздо более энергично. Благодаря последнему обстоятельству уже при самой незначительной толщине кристаллического препарата электронные волны создают отчетливые дифракционные картины. Электронографиче-ский способ имеет определенное преимущество перед рентгенографическим, когда речь идет об изучении чрезвычайно тонких кристаллических слоев. Однако метод дифракции электронов еще не дал надежных результатов при исследовании структуры аморфных тел, хотя Н. А. Шишаков [6], получивший электронограммы кварцевого стекла рассматривает их как подтверждение кристал-литной теории и считает, что плавленый кварц состоит из деформированных кристалликов кристобалита. [7]
Теперь дифракция электронов широко используется для изучения структуры вещества ( см. стр. Для структурных исследований применяется также дифракция нейтронов. Была изучена дифракция атомов гелия, молекул водорода и других частиц. [8]
Теперь дифракция электронов широко используется для изучения структуры вещества ( см. стр. Для структурных исследований применяется также дифракция нейтронов. Была изучена дифракция атомов гелия, молекул водорода и других частиц. Таким образом, двойственная корпускулярно-волновая природа материальных частиц является надежно установленным экспериментальным фактом. К для различных объектов, то обнаружили бы, что для макрообъектов они исчезающе малы. Это означает, что волновые свойства макрообъектов ни в чем не проявляются: если длина волны значительно меньше размеров атома ( 10 - 8см), то невозможно построить дифракционную решетку или какое-либо другое приспособление, позволяющее обнару жить волновую природу частицы. [9]
В научных лабораториях холод применяют для изучения структуры вещества проникновения в мир молекул и атомов при температурах их, близких к абсолютному нулю. После получения жидкого гелия при температуре - 268, 96 С или 4 2 К были исследованы свойства металлов при этих гелиевых температурах и обнаружено отсутствие их сопротивления электрическому току-явление сверхпроводимости. При столь низких температурах нарушаются и магнитные свойства металлов - магнитное поле внутрь их не проникает. Кроме того, при этих низких температурах было обнаружено явление сверхтекучести некоторых жидкостей - отсутствие вязкости и прохождение их через капилляры без трения. [10]
Одним из прямых и точных методов изучения структуры вещества является инфракрасный спектральный анализ. [11]
Электронографический анализ - один из методов изучения атомно-кристалли-ческой структуры веществ, в котором используется дифракция потока движущихся электронов, обладающего волновыми свойствами. От рентгеновских лучей волны потока электронов отличаются меньшей длиной. При ускоряющем напряжении 30 - 100 кВ, которое применяют в электронографах, длина волны потока электронов колеблется в пределах 0 07 - 0 04 А, что в 20 - 30 раз меньше длин волн, используемых в рентгенографическом анализе. Кроме того, длина пробега электронного луча в исследуемом веществе по сравнению с рентгеновским меньше и обычно не превышает 100 А, так как электроны сильно взаимодействуют с веществом и быстро поглощаются в кристаллах. [12]
Двадцатипятилетие, прошедшее со времени открытия метода изучения структуры вещества при помощи диффракции электронов ( 1927 - 1952), оказалось для распространения метода менее эффективным, чем соответствующее двадцатипятилетие ( 1912 - 1937) для развития метода диффракции рентгеновских лучей. Причина этого заключается в том, что методика электронографии значительно более трудная вследствие необходимости помещения исследуемых образцов в вакуум порядка 10 - 4 - 10 - 5 мм рт. ст. Кроме того, ценность метода электронографии выявилась в тех областях знания, где не было достаточно четких научных представлений, а именно в области исследования поверхностных слоев и тонких пленок, термодинамика и кинетика которых остаются и до сих пор еще мало разработанными. [13]
В настоящее время дифракция электронов широко используется для изучения структуры веществ. Установка, в которой наблюдается это явление - электронограф - стала обычным прибором в физико-химических лабораториях. Для структурных исследований применяется также дифракция нейтронов. Была изучена дифракция атомов гелия, молекул водорода и других частиц. Таким образом, двойственная корпускулярно-волновая природа микрообъ-является надежно установленным фактом. [14]
В настоящее время дифракция электронов широко используется для изучения структуры веществ. [15]