Фактор - лорентец
Cтраница 1
Фактор Лорентца определяет зависимость измеренной интенсивности от времени, в течение которого плоскость вращающегося кристалла находится в отражающем положении. В терминах представления обратная решетка - сфера отражений это означает, что узел решетки соприкасается со сферой отражений в течение определенного времени, и оно, очевидно, зависит от расстояния, на котором находится узел от начала координат. При большом угле отражения узел обратной решетки пересекает сферу отражений почти по касательной и фактор Лорентца L большой. При малых углах 6 фактор Лорентца также большой, поскольку узел находится около начала координат и время пересечения сферы отражений велико. Выражение для L зависит от геометрии дифракционного эксперимента, используемого при наборе данных по интен-сивностям. [1]
Вводятся поправки на факторы Лорентца и поляризации для данных, полученных фотометодом. Может быть введена также поправка Филлипса на форму пятен. В тех случаях, когда кристалл можно описать сферой или цилиндром, обычно включают учет поглощения рентгеновских лучей в кристалле. [2]
Коэффициент пропорциональности р называют фактором Лорентца. [3]
Этот результат является, конечно, приближенным, поскольку фактор Лорентца может существенно отличаться от указанного значения, однако он правильно оценивает порядок величины константы Кюри - Вейсса для сегнетоэлектрических фазовых переходов типа порядок - беспорядок. [4]
 |
Блок-схема процесса определения структуры молекулы. [5] |
Для каждого отражения необходимо также скорректировать интенсивность с учетом классических факторов Лорентца, поляризационного фактора [47], факторов поглощения и, если нужно, разрушения [48, 49]; редко вводят поправку на. При наличии нескольких измерений одного и того же отражения или симметричных отражений следует получить среднее значение интенсивности. [6]
Величины F0 структурных факторов получают из измерений интенсивности после введения поправок на фактор Лорентца и поляризации, на поглощение и экстинкцию, а для фотографических данных - также поправки Фил-липса на форму пятен. Фазы наблюдаемых структурных факторов находят математическим путем, используя прямые методы, или с помощью синтезов Патерсона и Фурье, если применяется метод тяжелого атома. [7]
 |
Дифрактограмма чистого метафосфата калия. Температура 900 С. [8] |
Для нескольких наиболее интенсивных дифракционных максимумов, кроме того, была введена поправка на фактор Лорентца. [9]
Данные, полученные после расчетов по программам части I, могут быть теперь скорректированы на факторы Лорентца и поляризации, если это не было сделано в процессе их сбора. [10]
По своему смыслу выражение (9.26) есть локальное поле; для чисто электростатического взаимодействия разность между локальным полем и средним макроскопическим есть поле Лорентца, и величина яч / И Р - это то, что в электростатике диэлектриков обычно называют фактором Лорентца. [11]
Фактор Лорентца определяет зависимость измеренной интенсивности от времени, в течение которого плоскость вращающегося кристалла находится в отражающем положении. В терминах представления обратная решетка - сфера отражений это означает, что узел решетки соприкасается со сферой отражений в течение определенного времени, и оно, очевидно, зависит от расстояния, на котором находится узел от начала координат. При большом угле отражения узел обратной решетки пересекает сферу отражений почти по касательной и фактор Лорентца L большой. При малых углах 6 фактор Лорентца также большой, поскольку узел находится около начала координат и время пересечения сферы отражений велико. Выражение для L зависит от геометрии дифракционного эксперимента, используемого при наборе данных по интен-сивностям. [12]
Выходные данные состоят из индексов отражений, соответствующих угловых величин, числа импульсов на счетчике и времени счета. Эти величины печатаются на бумаге и пробиваются на перфоленте. Для расчетов с помощью подходящей ЭВМ придаются программы, написанные на языке Фортран IV, для учета поправки на фактор Лорентца и поляризации и поправки на поглощение. [13]
Фактор Лорентца определяет зависимость измеренной интенсивности от времени, в течение которого плоскость вращающегося кристалла находится в отражающем положении. В терминах представления обратная решетка - сфера отражений это означает, что узел решетки соприкасается со сферой отражений в течение определенного времени, и оно, очевидно, зависит от расстояния, на котором находится узел от начала координат. При большом угле отражения узел обратной решетки пересекает сферу отражений почти по касательной и фактор Лорентца L большой. При малых углах 6 фактор Лорентца также большой, поскольку узел находится около начала координат и время пересечения сферы отражений велико. Выражение для L зависит от геометрии дифракционного эксперимента, используемого при наборе данных по интен-сивностям. [14]
Страницы: 1