Cтраница 1
Изучение кристаллической структуры может дать прямое доказательство существования водородных связей. Обычным методом дифракции рентгеновских лучей трудно определить непосредственно положение легких атомов ( особенно водорода), если только нет очень точных данных и другие атомы в кристалле не достаточно легкие. Так, положения атомов водорода можно определить с точностью до 0 1 А ( разд. Однако их положения часто можно определить косвенно следующим способом. Когда расстояния между двумя определенными атомами необычно короткие и число этих коротких расстояний соответствует числу атомов водорода в формуле, тогда можно считать, что короткие расстояния указывают положения водородных связей. Так, в кристалле кислого карбоната натрия два атома кислорода каждой ( плоской) карбонатной группы находятся на расстоянии только 2 55 А от ближайших атомов кислорода соседних карбонатных групп, тогда как третий атом кислорода - на расстоянии 3 15 А от ближайшего его соседа. Таким образом, считают, что короткие расстояния указывают положения атомов. [1]
Изучение кристаллических структур методами рентгенострук-турного ( основан на дифракции рентгеновских лучей кристаллической решеткой вещества) и электронографического анализа ( основан на дифракции электронов или нейтронов) показало, что реальные кристаллы отличаются от идеальных. В реальных кристаллах строгая пространственная периодичность нарушается из-за наличия дефектов кристаллической структуры. Многие свойства кристаллических тел объясняются наличием таких дефектов. Последние могут быть собственными, если они образуются вследствие теплового движения в кристалле, или примесными, если в кристалле появляются посторонние примеси, введенные случайно или преднамеренно. Дефекты могут затрагивать одну или несколько элементарных ячеек или весь кристалл в целом. В технологии пигментов большой интерес представляют, например, такие дефекты, как ультрамикротрещины, определяющие прочность кристалла, что в свою очередь играет важную роль в процессах измельчения и диспергирования пигментов. Если в момент кристаллизации возникают механические помехи росту кристалла, в нем может возникнуть дефект, называемый дислокацией. При деформациях кристалла дислокации и их скопления могут перерастать в ультра-микротрещины. [2]
![]() |
Взаимное расположение верхней тетраэдрической сетки нижнего слоя ( сплошная линия и нижней тетраэдрической сетки верхнего слоя ( пунктир в структурах пирофиллита. [3] |
Изучение Кристаллических структур пирофиллитов и таль-ков, хотя и было предпринято впервые в начале 30 - х годов, впоследствии несколько отстало от структурного анализа слюд. Первоначально их своеобразие и отличительные особенности не были сформулированы достаточно четко. С более общих позиций своеобразие структур пирофиллитов и тальков было рассмотрено в работе [6], где было показано как иные закономерности расположения слоев ведут к обособленной группе политвпных структур из трехэтажных слоев. В случае центросимметричных слоев возможно 7 структур с одинаковой четностью а с периодами в 1, 2, 3 слоя и симметрией С2 / т, С, С2 / с ( две структуры), Сс, РЗЬ С2, РЗЬ В действительности реализуются две полностью упорядоченные структуры пирофиллита и одна - для талька. [4]
Изучение кристаллической структуры пролина было начато в 1949 г., когда Райт и Коул [114] определили пространственную группу и размеры элементарной ячейки L-формы аминокислоты. В 1952 г. Мачисон и Велш [115] вывели с невысокой точностью структуру дигидрата медной соли пролпна, а в 1959 г. Сасисека-рен [116] получил предварительные структурные данные ( пространственная группа п ячейка) для моногидрата пролина. [5]
Изучение кристаллической структуры циркона показало, что минерал циркон построен из изолированных кремнекислородных тетраэдров. Циркон очень стоек к химическим реагентам. [6]
Изучение кристаллической структуры монокристаллов 0-фазы показало, что она имеет тетрагональную решетку с 30 атомами на элементарную ячейку; а 8 77 А, с - 4 54 А [4]; при этом наблюдается ограниченная упорядоченность. [7]
Изучение кристаллических структур металлических элементов позволяет выявить некоторые общие положения о построении металлических фаз. [8]
Изучение кристаллической структуры исследуемых глинистых минералов и различий в их строении дает возможность познать сущность процессов структурообразования в их водных дисперсиях и взаимодействий между поверхностью глинистых частиц и различными реагентами, а также позволяет научно объяснить наличие у этих систем определенных физико-химических свойств. [9]
Для изучения кристаллической структуры с помощью рассеяния электронов их энергия должна быть от десятков до сотен электрон-вольт. С помощью электронов можно увидеть структуру пленок либо приповерхностных слоев толщиной порядка 1 нм. Толщина исследуемого слоя определяется глубиной проникновения электронов такой энергии в кристалл без потери энергии. [10]
Для изучения кристаллической структуры приповерхностных слоев толщиной до нескольких долей микрометра применяют дифракцию быстрых электронов. [11]
Результаты изучения кристаллической структуры промежуточных фаз следующие. [12]
![]() |
Типы упаковок. гексагональная плотноупако-ванная решетка. [13] |
При изучении кристаллической структуры и способа упаковки важно установить объем, занимаемый атомами или ионами твердого тела. Рассматривая ионы в галогенидах щелочных металлов в виде жестких сфер, можно приписать ионный радиус каждому из ионов, а межионные расстояния в кристаллах в свою очередь выразить в виде простой суммы соответствующих ионных радиусов. [14]
При изучении кристаллической структуры N, N - гексамети-ленбиспропионамида Дженсен, Кримм, Парриш и Вуд [937] определили рентгенографически параметры решетки и предложили модель структуры. Холмс, Баин и Смит [776] исследовали рентгенографически кристаллическую структуру поли-е-капро-амида. [15]