Возрастание - интенсивность - отказ
Cтраница 1
Возрастание интенсивности отказов относится к периоду старения системы. Оно обусловлено износом, старением и другими причинами, связанными с длительной эксплуатацией. [1]
 |
Графики зависимости частоты. [2] |
Участок III характерен возрастанием интенсивности отказов, что объясняется, как правило, появлением массового износа и старением элементов рассматриваемой системы. [3]
Участок 3 характеризуется возрастанием интенсивности отказов из-за увеличения постепенных отказов, вызванных окончанием срока службы элементов. [4]
Однако теория и эксперименты показывают, что через 50 - 70 тыс. ч работы возрастания интенсивности отказов не наблюдается. Тем не менее за время хранения и работы могут происходить изменения значений параметров приборов. У отдельных экземпляров эти изменения оказываются столь значительными, что происходит отказ аппаратуры. [5]
Типичный вид динамики коэффициента смертности в теории надежности имеет U-образную форму, соответствующую трем периодам жизни технических устройств ( рис. 7.5): участок убывающей интенсивности отказов - периоду приработки, или ранних отказов; участок постоянной интенсивности - нормальной эксплуатации; участок возрастания интенсивности отказов - периоду износа или старения устройств. [6]
 |
Графики. а интенсивности отказов, б экспоненциального закона надежности. [7] |
Возрастание интенсивности отказов по прошествии времени / з объясняется физическим износом изделий. [8]
 |
Графики. а интенсивности отказов, б экспоненциального закона надежности. [9] |
Возрастание интенсивности отказов по прошествии времени 4 объясняется физическим износом изделий. [10]
Время, в течение которого полупроводниковые приборы могут работать в аппаратуре ( их срок службы), практически неограниченно. Однако теория и эксперименты показывают, что через 50 - 70 тыс. ч работы возрастания интенсивности отказов не наблюдается. Тем не менее за время хранения и работы могут происходить изменения значений параметров приборов. У отдельных экземпляров эти изменения оказьгеаются столь значительными, что происходит отказ аппаратуры. [11]
Время, в течение которого полупроводниковые приборы могут работать в аппаратуре ( их срок службы), практически неограниченно. Однако теория и эксперименты показывают, что через 50 - 70 тыс. ч работы возрастания интенсивности отказов не наблюдается. Тем не менее за время хранения и работы могут происходить изменения значений параметров приборов. У отдельных экземпляров эти изменения оказываются столь значительными, что происходит отказ аппаратуры. [12]
Время, в течение которого полупроводниковые приборы могут работать в аппаратуре ( их срок службы), практически неограничено. Однако теория и эксперименты показывают, что и через 50 - 80 тысяч часов работы возрастание интенсивности отказов не наблюдается. [13]
Время, в течение которого полупроводниковые приборы могут работать в аппаратуре ( их долговечность), практически неограничено. Однако теория и эксперименты показывают, что и через 50 - 80 тыс. ч работы возрастание интенсивности отказов не наблюдается. Тем не менее за время хранения и работы могут происходить изменения параметров приборов. У отдельных экземпляров эти изменения оказываются столь значительными, что вызывают отказ аппаратуры. Для характеристики уровня надежности приборов используют такие показатели, как гамма-процентный ресурс, минимальная наработка ( гарантийная наработка), интенсивность отказов, определяемые при специальных испытаниях. Нормы на эти показатели устанавливаются в ТУ на приборы. [14]
После достаточно длительной эксплуатации аппаратуры наступает последний, третий период, характеризуемый значительным возрастанием интенсивности отказов из-за старения и износа элементов. Этот период для РЭА наступает после нескольких сотен или тысяч часов работы. Возрастание интенсивности отказов объясняется необратимыми изменениями параметров и характеристик элементов. [15]
Страницы: 1 2