Обратная полюсная фигура

Cтраница 1

Обратная полюсная фигура представляет собой стандартную гно-ыостереографическую проекцию кристаллитов данного вещества, на которой нормалям к кристаллографическим плоскостям приписывается вес. Вес определяется степенью совпадения этих нормалей с некоторым интересующим нас направлением в образце, например направлением деформации. Наиболее рациональным способом съемки для построения обратных полюсных фигур является съемка на дифрактометре с фокусировкой по Брэггу-Брентано и оценка текстуры относительно нормали к плоскости среза образца. [1]

Проанализировать обратные полюсные фигуры образцов соединения В12Тез, полученные методом порошковой металлургии, после спекания, деформации экструзией и рекристаллизации. [2]

Обратная полюсная фигура для области сварного шва алюминиевого сплава ( сварка магнито-импульсным методом при давлении 9 ГПа.| Схема движения образца при дифракто-метрическом анализе текстуры. [3]

Способ построения обратной полюсной фигуры ( ОПФ) с помощью ЭВМ, предложенный Бунге [62-64], состоит в математической обработке экспериментальных дифрактометриче-ских кривых, позволяющей получить значения Рьы примерно в 50 равномерно расположенных точках ОПФ. [4]

Полюсная фигура для плоскостей J 111 прокатанного никеля ( плоскость проекции параллельна плоскости прокатки ЯЯ - направление ярокаткн, ПИ - поперечное направление, НН - направление нормали к плоскости листа. [5]

Текстуру обычно анализируют с помощью прямых и обратных полюсных фигур. Прямой полюсной фигурой ( ППФ) называется стереографическая проекция нормалей к определенным плоскостям ( hkl) для всех кристаллитов данного материала. [6]

Построить на кальке с помощью стандартной сетки гномостерео-графических проекций обратную полюсную фигуру, придавая нормалям вычисленный вес ( 0; 0 5; 1 0; 1 5; 2 0; 2 5; 3 0 3 0), обозначить области постоянного веса и определить характер текстуры. [7]

Для анализа текстур материалов с некубическими решетками удобно пользоваться методом обратных полюсных фигур. При этом не требуется применения большого числа стандартных гномостереографиче-ских проекций. Этот метод применяют и тогда, когда необходим анализ вероятности совпадения определенных кристаллографических и внешних направлений. [8]

Схемы съемки в фокусирующей камере с применением монохроматора ( а - на отражение, б - на просвет. Ф - фокус рентгеновской трубки. М - кристалл-монохроматор. О - образец. Я - пленка. [9]

Сменные приставки позволяют анализировать крупнозернистые образцы ( вращение образца в собственной плоскости), получать прямые и обратные полюсные фигуры, вести съемки при высоких ( до 2200 С) и низких ( до - 180 С) температурах, исследовать и ориентировать монокристаллы. [10]

Для определения текстуры прокатки по ППФ ее поочередно накладывают на разные стандартные проекции монокристалла до совмещения областей сгущения нормалей с выходами анализируемых нормалей на стандартной проекции. Обратную полюсную фигуру ( ОПФ) строят на основании измерений интегральной интенсивности отражений для разных плоскостей. С помощью дифрактометра в условиях фокусировки по Брэггу-Брентано полюсные плотности для разных плоскостей ( Phki), рассчитанные из соотношения отражений интенсивностей ( HKL) образца и эталона, наносят около соответствующего полюса ( hkl в стандартном треугольнике. Точки с одинаковым значением Рны соединяют уровнями Индексы полюсов ОПФ, около которых Рь. [11]

Результаты рентгеновского исследования WSi2. [12]

Исследованные текстуры имеют малую степень совершенства и характеризуются наличием многих изолированных полюсов. Кроме того, ряд дифракционных отражений, далеко отстоящих на обратной полюсной фигуре, на рентгенограммах сливаются. Это не дает возможности построить обратные полюсные фигуры. Поэтому результаты исследований приведены в табл. 2 для основных кристаллографических направлений в кристалле. [13]

Результаты рентгеновского исследования WSi2. [14]

Страницы: 1 2