Ступенчатый фильтр

Cтраница 2

На рис. 1 - 60 показана структурная схема коррекции при помощи ступенчатого фильтра. [16]

Однако здесь еще не учтены систематические ошибки, связанные с измерением ослабления света ступенчатым фильтром. Кроме того, значительные ошибки могут возникнуть в результате неоднородности светового поля по высоте. Надо полагать, что ошибки, вызываемые последними факторами, могут быть снижены за счет многократного повторения измерений с последующим усреднением результатов. [17]

Для коррекции измерительных приборов, имеющих линейные характеристики, находят применение импульсные линейные устройства, называемые ступенчатыми фильтрами. [18]

В показанной на рис. 1 - 61 схеме к основному сигналу U ( t), содержащему постоянную составляющую и высокочастотные, при помощи корректирующего ступенчатого фильтра добавляются такие высокочастотные составляющие, которые, складываясь с составляющими входного сигнала, создают на выходе суммарную величину требуемого вида. [19]

Фильтр тонкой очистки фирмы Фэркинс. [20]

Для лучшего использования объема фильтра, упрощения обслуживания и уменьшения коммуникаций фильтрующие элементы грубой и тонкой очистки в некоторых двигателях объединены в одном корпусе так называемого сдвоенного ступенчатого фильтра. [21]

В некоторых конструкциях фильтров для лучшего использования их объема, упрощения обслуживания и уменьшения коммутаций на двигателе фильтрующие элементы грубой и тонкой очистки объединены в одном корпусе или под одной крышкой и выполняют роль сдвоенного ступенчатого фильтра. [22]

Если интенсивность источника излучения слишком высока, то в осветительную систему необходимо ввести светофильтр. Это отмечают после цифровых данных, характеризующих ступенчатый фильтр. [23]

Устранение света, отраженного от плоской поверхности линзы. S - щель, S - ее мнимое изображение, 1 / - плоско-выпуклая линза, В - экран, Р - фокальная поверхность.| Устранение света, отраженного от задней поверхности плоско-выпуклой линзы. S - щвль, S - ее действительное изображение, L - линза, В - экран, Р - фокальная поверхность. [24]

Появление таких полос связано с интерференцией лучей в тонких пластинках, образуемых двумя близко расположенными поверхностями. Эти полосы могут образоваться в результате интерференции в тонкой пластинке, расположенной перед щелью прибора. При использовании желатиновых ступенчатых фильтров от них часто трудно избавиться. [25]

Большинство ГТУ работают без фильтрации воздуха, а в тех случаях, если имеются фильтры в ВЗК, они не действуют. ВЗК имеют многочисленные протечки, обычно через утраченные уплотнения дверей. Значительные отложения пыли находятся на входе в ВЗК Агрегаты ГТК-10И и ГПУ-10 оснащены 2 - х ступенчатыми фильтрами с инерционной ступенью, а 2-я ступень у ГПУ-10 имеет сложную конфигурацию. А у агрегатов ГТК-10 отсутствует фильтрация воздуха, воздух попадает в вентиляционную камеру на высоте 2 5 м над землей. На агрегатах ГТК-10 и ГТК-10И применяется сухая, ручная чистка проточной полости компрессора щеткой. На некоторых агрегатах применяется чистка моющими растворами на основе соды. В сочетание с серой, попадающей с атмосферной пылью, натрий становится крайне агрессивным для элементов горячего тракта ГТУ. [26]

К вопросу об интерференции при отражении от двух оптических поверхностей. [28]

Отражения от оптических поверхностей могут привести также к резким искажениям распределения энергии, создавая иногда впечатление ложных спектральных полос или линий. Появление таких полос связано с интерференцией лучей в тонких пластинках, образуемых двумя близко расположенными поверхностями. Эти полосы могут образоваться в результате интерференции в тонкой пластинке, расположенной перед щелью прибора. При использовании желатиновых ступенчатых фильтров от них часто трудно избавиться. [29]

С помощью установки, схема которой дана на рис. 4, можно получать снимки при различных напряжениях на кварце. Это дает возможность установить зависимость почернения пластинки от напряжения. Используя эту зависимость, нетрудно по спаданию почернения по мере удаления щелей от излучателя определить поглощение. Для этого ряд снимков от всех щелей при различных подводимых к кварцу напряжениях фотометрируется по спектрам Т 1-го порядков. Составляется график, где по оси абсцисс откладывается расстояние от щели, закрытой ступенчатым фильтром, а по оси ординат - показание клина для спектров одного и того же порядка. [30]

Страницы: 1 2 3