Флуктуация - сопротивление
Cтраница 1
Флуктуации сопротивления в свободном слое определяются движением газовых пузырей. Это позволило предположить 7, что исходя из взаимосвязи размеров пузыря и сетчатой насадки по мере укрупнения последней следует ожидать больших флуктуации перепада давления. Предположение было подтверждено экспериментом. [1]
Если флуктуации сопротивления на самом деле обусловливают избыточный неравновесный шум в резисторах, то у образца, по которому одновременно протекают постоянный и переменный ток с частотой / о, должна иметься 1 / f - составляющая на частоте, допустим, fi и соответствующие составляющие 1 / Af-шума на частотах fozhfi, и эти составляющие должны быть сильно коррелированными. Джон и Фрэнсис [40] провели эксперименты с целью подтверждения существования этой ожидаемой корреляции и нашли, что коэффициенты корреляции находятся в пределах 5 % от единицы. Этот факт убедительно свидетельствует о том, что l / f - шум у резисторов связан с флуктуацией сопротивления образцов. [2]
Объяснить это можно, если учесть, что избыточный шум вызывается флуктуацией сопротивления полупроводниковых диодов смесителя. [3]
 |
Зависимость напряжения теплового шума от сопротивления. ( National Semiconductor Corp. [4] |
Шум Джонсона не следует путать с дополнительным шумовым напряжением, возникающим из-за эффекта флуктуации сопротивления, когда приложенный извне ток проходит через резистор. Этот избыточный шум имеет спектр приблизительно 1 / /, и он сильно зависит от конкретной конструкции резистора. [5]
 |
Зависимость напряжения теплового шума от сопротивления. [6] |
Шум Джонсона не следует путать с дополнительным шумовым напряжением, который возникает из-за эффекта флуктуации сопротивления, когда приложенный извне ток проходит через резистор. Этот избыточный шум имеет спектр приблизительно 1 / /, и он сильно зависит от конкретной конструкции резистора. [7]
Неизбежный вывод заключается в том, что 1 / / - флуктуации тока и напряжения действительно обусловлены флуктуациями сопротивления образца. Интересно, что в соответствии с этой точкой зрения постоянный ток, протекающий по образцу, не генерирует 1 / / - шум, он просто делает очевидными эти 1 / f - флуктуации, уже существующие в сопротивлении, находящемся в равновесном состоянии. [8]
Помимо явления мерцания или флуктуации работы выхода вследствие процессов диффузии и испарения, в оксидном катоде возможны также флуктуации сопротивления оксидного слоя, а также прослойки между оксидным слоем и керном катода, особенно если керн выполнен из кремнистого никеля, что приводит к образованию прослойки с большим сопротивлением. [9]
Обратный объем ( или число частиц) входят в выражение 8.11 правильным образом, но нужно еще определить конкретный механизм флуктуации сопротивления. [10]
Близким по характеру к этому виду флюктуации являются контактные флуктуации, возникающие в гетерогенных системах, например, в композиционных и углеродистых резисторах за счет флуктуации сопротивления переходов между компонентами, составляющими резистор, между поверхностями зерен проводящей добавки в резисторе. [11]
Имеется еще и другая очень важная часть экспериментальных данных, которая снимает почти любое сомнение относительно того, что l / f - шум в однородных образцах обусловливается флуктуациями сопротивления. Здесь неявно подразумевается, что если такие флуктуации существуют, то они будут присутствовать как в тех случаях, когда образец находится в термическом равновесии с окружающей средой, так и в тех случаях, когда через него течет ток. [12]
Есть ряд трудностей физического характера применимости подобной теории очередей, одна из них, очевидно, состоит в том, что сопротивление образца определяется числом свободных носителей в кристалле в данный момент времени и, следовательно, в моделях флуктуации сопротивления и 1 / / - шума длительность отрезка времени, проводимого каким-то одним носителем в зоне проводимости, не имеет значения. Важным фактором является распределение времени заселенности ловушек, как это рассмотрено в разд. Более существенное возражение относительно применимости теории очередей состоит в том, что анализ Белла не приводит к закону l / f, как он и указал в своей статье. Из-за недостатков гипотезу об очередях Белла больше не рассматривают как один из возможных механизмов, ответственных за l / f - шум в полупроводниках. [13]
 |
Зависимость теплового и токового шумов непроволочного резистора от полосы частот. [14] |
В соответствии с природой шумов различают тепловые и токовые ( контактные) шумы. Токовые шумы непроволочного резистора обусловливаются, флуктуациями сопротивления, вызванными изменением площади контактов между зернами проводника в результате их нерегулярного движения. [15]
Страницы: 1 2