Фокусировка - первый порядок
Cтраница 2
Равенство нулю в выражении (8.9) лишь коэффициента с свидетельствует о том, что в рассматриваемом случае существует фокусировка первого порядка. С ростом неоднородности поля, определяемой 1, изображение растет ( рис. 8.3), но продолжает оставаться величиной второго порядка малости. [16]
Кроме идеальной фокусировки при х 2яНиН, узкий пучок траекторий пересекается еще в одной точке, где осуществляется фокусировка первого порядка. Если начальные скорости удовлетворяют условию va сЕ / Н, то для направлений, близких к 8 0, фокусировка первого ПОРЯДКЕ. [18]
Траектории электронов в зеркале со смещенными источником и его изображением отличаются от их путей в цилиндрическом зеркале с фокусировкой первого порядка ( см. § 8.1 - 8.4) наличием прямолинейных участков в эквипотенциальной области. [19]
В поле вида Дг Н0 ( -) Для коэффициента неоднородности, лежащего в пределах от нуля до единицы, достигается фокусировка первого порядка. [20]
С увеличением неоднородности поля дисперсия в зеркале с фокусировкой второго порядка возрастает, но при этом остается меньше дисперсии в цилиндрическом зеркале с фокусировкой первого порядка. [21]
 |
Траектории расходящегося пучка ионов, отклоняющегося на 180 в однородном магнитном поле. [22] |
В масе-спектрометрии фокусировка по направлению моноэнергетического пучка ионов с угловым расхождением 2а рад, дающая величину уширения пучка в фокусе, равную га2, называется фокусировкой первого порядка. [23]
Из выражения (7.7) видно, что при 6 л / 4 рад производная dx0 / dQ 0 и, следовательно, в поле конденсатора имеет место фокусировка первого порядка по направлению. Из выражения (7.11) также следует, что дальность полета электронов, влетающих в конденсатор под углами 0 л / 4 а / 2 рад к плоскости нижней пластины, одинакова. [24]
Из выражений (3.10) и (3.13) следует, что при повороте на азимутальный угол фл / Т / 2 электроны фокусируются по углу ос. При этом имеет место фокусировка первого порядка. При повороте на угол ф - 2л / Т / 2 происходит двойная фокусировка. Однако, как будет показано в дальнейшем, при ф2 л / Т / 2 одновременно происходит и фокусировка по энергии. [25]
Алексеевский и сотрудники [1] построили масс-спектрометры, в которых п варьировало от 0 8 до 0 91; полученная разрешающая способность была близка к теоретическому пределу. Форма полей в 180 -ных секторных масс-спектрометрах Алексеевского соответствовала уравнению ( 1); была получена фокусировка первого порядка по направлениям. [26]
Предложенный метод позволяет рассчитать параметры ИОС для фокусировки любого порядка в медианной плоскости без учета рассеянного магнитного поля и фокусировку первого порядка в вертикальной плоскости с учетом рассеянного магнитного поля. В этой же работе показано, что в параксиальном приближении изменения параметров ИОС в медианной плоскости с учетом рассеянного магнитного поля проявляются только в третьем порядке, и то в практически малых значениях. В 1968 году результаты исследований в том же направлении были опубликованы Б. В. Паниным в препринте [22], на который мы будем в дальнейшем ссылаться, как на более доступный. [27]
В настоящее время автор проводри вычисления с целью выяснить, возможно ли найти такие варианты конструкции, для которых, помимо фокусировки второго порядка по направлениям ( Bi Вц - - 0) и фокусировки первого порядка по скоростям ( В 2 0), были одновременно обеспечены малые значения коэффициентов В12 и - 622 - Такое устройство прибора дало бы двойную фокусировку почти полного второго порядка для средней плоскости, причем применение неоднородного магнитного секторного поля значительно повысило бы дисперсию и разрешающую способность без увеличения радиуса гт. [28]
Когда вместо одного цилиндрического поля используются тороидальное поле или дополнительные линзы, это простое уравнение следует модифицировать. Если система линз образует уменьшенное промежуточное изображение, разрешение можно улучшить. Соответствующие расчеты основаны на фокусировке первого порядка и позволяют определить максимальное разрешение, которого можно ожидать для данных ширины щели и геометрии прибора. Действительное разрешение оказывается меньше вследствие побочных отрицательных эффектов, описанных в разд. Наиболее важны дефекты изображения, поскольку они ограничивают максимальную ширину пучка, который может быть пропущен через анализатор. Это справедливо даже для конструкций, в которых практически исключены аберрации второго порядка, поскольку всегда остаются аберрации более высоких порядков. В результате дефектов изображения разрешение заметно падает, если ширина пучка в анализаторе достигает определенного предела, зависящего от геометрии прибора. Когда необходимо регистрировать примесные элементы, линии которых находятся в непосредственной близости от линий основы, очень важной становится форма пика. [29]
 |
Траектории электронов в поле гиперболического зеркала. [30] |
Страницы: 1 2 3