Фокусировка - прибор
Cтраница 1
Фокусировка прибора осуществляется перемещением объективов коллиматора и камеры. Величина перемещения контролируется по шкалам. Угол наклона кассеты устанавливают разворотом барабана, на котором укреплена кассета. [1]
Фокусировка прибора в этом случае ведется также по контроль ному валику, как на инструментальном микроскопе. Затем контрольный валик снимают и в центрах устанавливают проверяемый резьбовой калибр. [2]
 |
Спектрограф КСА-1. [3] |
Фокусировка прибора осуществляется перемещением объективов коллиматора и камеры. Величина перемещения контролируется по шкалам. Угол наклона кассеты устанавливают разворотом барабана, на котором укреплена кассета. [4]
Фокусировка прибора при значительных наклонах затрудняется; одновременно увеличивается влияние дефектов оптики на инструментальный контур. [5]
После фокусировки прибора в том месте пучка рентгеновских лучей, где должна быть измерена доза излучения, прибор считается готовым для использования. [6]
 |
Влияние смещения фокальной поверхности на фокусировку. [7] |
В работе [ 7а ] описан удачный метод визуальной фокусировки приборов скользящего падения с роуландовской установкой. [8]
Вращением микрометрического винта 10 с ценой деления барабана 0 002 мм производится фокусировка прибора на четкое изображение штрихов исследуемой поверхности. Рукояткой 8 производится переключение на наблюдение в монохроматическом свете. Для этого рукоятку 8 вытягивают на себя, а затем поворачивают вправо. [9]
Нерезкое изображение препарата по всему полю зрения микроскопа может быть вызвано применением покровного стекла с толщиной, отличной от стандартной, неправильной фокусировкой прибора, использованием светофильтра, не сочетаемого с данной системой объектива, самопроизвольным перемещением механизмов фокусировки конденсора или тубуса, большими аберрациями оптической системы. Односторонняя нерезкость изображения может быть вследствие неперпендикулярного расположения предметного столика по отношению к оптической оси прибора, клиновидное предметного стекла или неправильной его установки. Иногда круговая нерезкость изображения проявляется при неправильном выборе окуляра в комбинации со слабыми ахроматическими объективами. Чтобы устранить нерезкое изображение препарата по всему полю зрения с помощью коррекционной оправы объектива, необходимо ввести поправку на толщину покровного стекла или, при работе с объективом, не имеющим коррекционной оправы, сменить покровное стекло; затем проверить и снова сфокусировать микроскоп. [10]
Наиболее простой метод оценки разрешающей способности заключается в нахождении близко расположенных и достаточно узких линий, которые могут быть разрешены при правильной фокусировке прибора. В качестве таких линий в зависимости от разрешающей способности прибора могут быть выбраны мультиплеты в известных спектрах или линии, обладающие сверхтонкой структурой. [11]
Наиболее простой метод оценки разрешающей способности заключается в нахождении близко расположенных и достаточно узких линий, которые могут быть разрешены при правильной фокусировке прибора. В качестве таких линий в зависимости от разрешающей способности прибора могут быть выбраны мультиплеты в известных спектрах или линии, обладающие сверхтонкой структурой. [12]
 |
Уширение спектральной линии при расфокусировке. а фокальная поверхность перпендикулярна оси камерного объектива, б наклонная фокальная поверхность. [13] |
Легко понять ( рис. 5.24, б), что если фокальная поверхность наклонена по отношению к падающему лучу, то чувствительность фокусировки прибора к малым смещениям фотопластинки увеличивается. [14]
При просвечивании электронным микроскопом все частицы, расположенные в образце на различной глубине от поверхности, проецируются на воображаемую плоскость, поскольку глубина фокусировки прибора намного больше, чем толщина образца. Это может оказать влияние на интерпретацию результатов, наблюдений. Для исключения такого эффекта можно либо приготовлять очень тонкие пленки, все агрегаты в которых располагаются в одной плоскости, либо ограничить продолжительность контрастирования с тем, чтобы Os04 проник только в верхние слои образца. [15]
Страницы: 1 2 3