Фокусировка - пучок
Cтраница 1
Фокусировка пучка должна обеспечить его прохождение вблизи замедляющей системы с нулевым токооседанием. [1]
Для фокусировки пучка на детали используют только отражательную оптику, которая обеспечивает меньшее поглощение света, чем линзовая. [2]
Для фокусировки пучка применяют электромагнитные линзы. Электромагнитными же линзами отклоняют пучок в нужном направлении; управление пучком может быть автоматизировано. Фокусирующие системы могут обеспечивать получение пучка диаметром в несколько микрон. [3]
 |
Установка для сварки световым лучом. [4] |
Для фокусировки пучка на детали используют только отражательную оптику, которая обеспечивает меньшее поглощение света, чем линзовая. [5]
При бриллюэновской фокусировке пучка вне пушки шумы минимальны. Превышение фокусирующего магнитного поля над бриллю-эновским значением вызывает рост шума. [6]
Отклонение и фокусировка коммутирующего пучка в плюмбико-не - электромагнитные. [7]
Значительную трудность представляет фокусировка пучка медлен ных электронов. В ортиконе для этой цели приходится прибегать к продольному однородному магнитному полю, напряженность которою подбирается с таким расчетом, чтобы на поверхность мозаики приходился один из фокусов пучка. Подстроечные катушки ( рис. 314) предназначены для установки начального положения электронного пучка, которое из-за неточности сборки прибора может оказаться смещенным. Чувствительность ортикона превышает чувствительность иконоскопа в несколько раз, несмотря на то, что светочувствительность полупрозрачной мозаики в шесть - восемь раз меньше чувствительности обычной мозаики. Этот большой заряд не может нейтрализоваться за счет первичных электронов, и в соответствующих местах появляется вторичная эмиссия; потенциал здесь быстро возрастает до величины потенциала коллектора, и работа ортикона нарушается. Неустойчивость при больших освещенностях является крупным недостатком ортикона. Вместе с тем ортикон имеет некоторые существенные преимущества перед иконоскопом, в том числе о - 10-кратное увеличение чувствительности. [8]
Распределенный заряд при фокусировке пучка в точку приводит к появлению бесконечной электростатической силы отталкивания. В результате точечное изображение точечного объекта может быть образовано только тогда, когда первеанс пучка ( см. уравнение (2.190)) пренебрежимо мал. Для любого конечного тока пучка минимальный достижимый размер изображения ограничивается пространственным зарядом. К счастью, как будет видно в дальнейшем, при обычных токах пучка и энергиях первеанс очень мал и влиянием распределенного пространственного заряда, таким образом, можно пренебречь. Распределенный пространственный заряд может влиять на изображение только для очень тяжелых ионов и / или при чрезвычайно низких энергиях. В этих случаях удобно рассматривать размытие пространственного заряда у изображения как добавку к диску сферической аберрации. [9]
Часто в экспериментах для фокусировки пучка использовалось продольное магн. Пучок здесь формируется на катодном, падении напряжения. [10]
 |
Щелевой ультрамикроскоп.| Кювета щелевого ультрамикроскопа. [11] |
Линза h служит для фокусировки пучка лучей в коллоидном растворе, находящемся в кювете А. [12]
В то время как фокусировка пучка частиц в электронных ускорителях необходима только на начальном участке и относительно проста, протонные ускорители нуждаются в специальных системах фокусировки пучка. [13]
 |
Приставки МНПВО. [14] |
Перемещение выполняется из условия фокусировки пучка на поверхности призмы или, в случае использования полуцилиндра, в фокальной плоскости элемента НПВО. [15]
Страницы: 1 2 3 4 5