Дополнительная фокусировка

Cтраница 2

Только в редких случаях в лаборатории требуется делать дополнительную фокусировку, а тем более изменять положения жестко закрепленных оптических деталей. Сверху приборы закрывают светонепроницаемым металлическим кожухом, который надежно предохраняет оптические детали от загрязнения и случайных повреждений. [16]

Устранение кривизны поля изображения с помощью дополнительной ( синхронизированной с отклонением фокусировки луча вспомогательной фокусирующей катушкой S2. [17]

Электрический способ устранения кривизны поля изображения основан на автоматической синхронизированной дополнительной фокусировке электронного пучка. При этом фокусное расстояние главной фокусирующей линзы электронной пушки синхронно возрастает при увеличении отклонения электронного пучка. [18]

Схема многорезонаторного клистрона. [19]

Для уменьшения потерь, вызванных оседанием электронов на стенки пролетных трубок, и увеличения плотности пучка применяется дополнительная фокусировка продольным магнитным полем по всему пролетному пространству. [20]

S. Распределение напряженности магнитного поля вдоль клистрона. [21]

При использовании только упомянутой выше электростатической фокусировки токопрохождение оказывается недостаточным, иьв большинстве случаев приходится прибегать к дополнительной фокусировке луча с помощью продольного магнитного поля, создаваемого соленоидом. [22]

Обеспечить требуемые параметры пучка при помощи электростатической фокусировки затруднительно, поэтому в трубках с разверткой медленными электронами ( в частности, в ортиконе) применяется дополнительная фокусировка пучка однородным продольным магнитным полем. Наличие продольного магнитного поля позволяет обеспечить перпендикулярное падение пучка электронов на мишень, что важно для правильного считывания накопленной на мишени информации. [23]

Эта методика оказалась достаточно эффективной также при изучении сколов в кристаллах и пористых поверхностей [11 ], так как при осмотре поверхности кристалла сканирующим лучом можно выбрать любой участок поверхности и наблюдать его при увеличении от 50 до 10 000 раз без дополнительной фокусировки. К сожалению, до сих пор в научной литературе отсутствуют работы по изучению микрорельефа глинистых минералов и их органических производных с помощью сканирующего микроскопа. [24]

Сильное электростатическое поле между первой и второй щелями ускоряет ионы до их конечных скоростей. Дополнительная фокусировка пучка ионов осуществляется между щелями. Для того чтобы развернуть спектр, варьируется либо магнитное поле, накладываемое на камеру анализатора ( рис. 1), либо ускоряющее напряжение между первой и второй щелями. В современных приборах сканирование от массы 12 до массы 500 может быть осуществлено всего за 2 - 4 с, что позволяет широко использовать масс-спектрометрический метод анализа в хроматографии. [25]

Спектрограф КСА-1. [26]

При вращении рукоятки приводится в действие механическая система спектрографа, которая согласованно осуществляет все эти движения. Никакой дополнительной фокусировки после перехода с одной длины волны к другой не требуется. Вращение рукоятки контролируют по барабану со шкалой длин волн. [27]

Геометрические соотношения и разность потенциалов подбираются так, что наименьшее сечение луча, фокусируемого цилиндрическими линзами, совмещается с поверхностью экрана. За счет этой дополнительной фокусировки электроны луча сходятся на полосах зеленого люминофора, вызывая его свечение. [28]

Электронно-лучевая трубка. [29]

Второй анод, называемый ускоряющим электродом, также выполнен в виде цилиндра, но обычно с одной диафрагмой. Этот электрод служит для дополнительной фокусировки луча и ускорения электронов до рабочей скорости, достаточной для свечения экрана. [30]

Страницы: 1 2 3 4 5