Cтраница 4
![]() |
Принципиальная схема компенсации. [46] |
Для этого необходимо остановиться на следующих вопросах: вывод общей расчетной формулы метода, точность метода, влияние фола на точность измерений, стабильность электронной аппаратуры, возможные изменения в компенсационной схеме, степень уравнивания интенсивностей, соответствующих более распространенному изотопу. [47]
![]() |
Слоистое расппегрпчше микродефектов А - и В-типов. х 100. [48] |
Наибольшую информацию о структуре микродефектов дают метода электронной микроскопии, использование которых требует приготов ления очень тонких образцов ( фолы), прозрачных для электронов Так как основное рабочее напряжение серийных электронных микрс скопов 100 - 200 кВ, то требуемая толщина кремниевой фольги должн составлять 0 1 - 0 2 мкм. [49]
Для того чтобы компенсировать потери вещества из тонкого источника за счет эффекта ядер отдачи, используют так называемый метод многослойных фолы. После облучения крайние фольги отбрасывают, а средние анализируют [ 19, с. Из-за возможной нестабильности пучка заряженных частиц стандартные образцы рекомендуется активировать одновременно с пробами. [50]
В Советском Союзе из этой группы фунгицидов для применения рекомендованы каптан, фталан и для опытно-производственного применения комбинированный препарат ми коди фол. [51]
Это подтверждает необходимость дальнейшего развития новых методов микроструктурного исследования процессов деформирования металлов, в частности путем наблюдения за изменением дислокационного строения фолы, деформируемых в специальных приспособлениях непосредственно в электронном микроскопе в широком диапазоне температур. [52]
Устройства, показанные на рис. 2.4, привлекательны также тем, что могут быть использованы для метания весьма тонких ударников - фолы или пленок, чем обеспечивается получение коротких импульсов ударной нагрузки. [53]