Сплошной фон
Cтраница 1
Сплошной фон проявляется тем слабее, чем меньше давление паров ртути. Однако снижение давления за счет уменьшения разрядного тока не должно быть значительным, так как это приводит к резкому падению интенсивности возбуждающих линий. [1]
Почернения сплошного фона рядом с аналитической линией, необходимые для вычисления величин AS 5Л ф - 5ф ( или / л / / ф), целесообразно измерять по обе стороны от линии и не по минимуму почернения, а на строго определенном, возможно более близком расстоянии от аналитической линии. Это расстояние устанавливают для каждой спектрограммы с помощью микрометренного винта микрофотометра или каким-либо другим достаточно надежным способом. [2]
Почернения сплошного фона рядом с аналитической линией, необходимые для вычисления величин AS 5л ф - 5ф ( или / л / / ф), целесообразно измерять по обе стороны от линии и не по минимуму почернения, а на строго определенном, возможно более близком расстоянии от аналитической линии. Это расстояние устанавливают для каждой спектрограммы с помощью микрометренного винта микрофотометра или каким-либо другим достаточно надежным способом. [3]
Интенсивность сплошного фона в лампах с полым катодом, вызванная электронным континуумом, несущественна. Основную опасность представляют посторонние линии в спектрах материала катода или заполняющего газа, лежащие в выделяемом спектральном интервале. [4]
Наличие сплошного фона непрерывного спектра является серьезным препятствием для повышения чувствительности анализа-нередко главным препятствием, лимитирующим, казалось бы, безграничные возможности спектрального анализа. Действительно, наличие фона не позволяет использовать удлинение времени экспозиции или увеличение светосилы аппаратуры для выявления очень слабых линий, так как эти приемы в одинаковой степени усиливают и фон. [5]
На этот яркий сплошной фон накладываются максимумы, соответствующие отдельным линиям спектра каждого из инертных газов. На рисунке 169 приведено распределение энергии по спектру для лампы, наполненной Аг. При этом по оси абсцисс отложены не частоты, а длины волн. [6]
 |
Зависимость значений рентгенографической ( йрснт. [7] |
Вследствие наличия интенсивного сплошного фона, размытости, рассеяния рентгенографический метод не может быть рекомендован для получения достоверных сведений о плотности нефтяных коксов, прокаленных при температурах до 1000 С. При повышенных температурах этот метод определения наиболее точен и дает наиболее правильное представление о тех периодах деструкции коксов, при которых в случае применения адсорбционных методов происходит закрытие пор для молекул газов и жидкостей. [8]
Это позволяет исключить сплошной фон и необычайно заострить все детали спектральных характеристик. [9]
 |
Измеренная заселенность атомных уровней в плазме цезия, , kT 0 274 эВ. 1 - без коррекции. 2 - с коррекцией на уширение линий и ширину щелей. [10] |
Вместо разрушаемых уровней возникает сплошной фон. Усиление фона компенсирует ослабление линий. На рис. 8.10 представлены два распределения возбужденных атомов по уровням, измеренных в импульсном разряде в парах цезия. Кривая 1 демонстрирует проявление ослабления линий аналогичного тому, о котором свидетельствует рис. 8.9. Кривая 2 соответствует принципу спектроскопической устойчивости. Она построена с коррекцией обработки наблюдений, необходимой из-за сильного уширения линий и конечности спектральных ширин щелей монохроматора по сравнению с полушириной регистрируемой линии. [11]
 |
Изменение формы ( а и интенсивности ( б спектральной линии при увеличении ширины щели. [12] |
Освещенность спектральных линий и сплошного фона сильно зависит от ширины щели. При очень маленькой ширине щели проходящий через нее световой поток расходится вследствие дифракции под очень большим углом, и количество света, попадающего в объектив коллиматора, мало. При ширине щели, равной двум нормальным, через объектив коллиматора проходит весь главный дифракционный максимум. Дальнейшее увеличение ширины щели не приводит к заметному увеличению освещенности узких спектральных линий: их ширина растет вместе с увеличением светового потока, проходящего через щель. [13]
 |
Изменение формы ( а и интенсивности. [14] |
Освещенность спектральных линий и сплошного фона сильно зависит от ширины щели. При очень маленькой ширине щели проходящий через нее световой поток расходится вследствие дифракции под очень большим углом, и количество света, попадающего в объектив коллиматора, мало. [15]
Страницы: 1 2 3 4