Сильный фон

Cтраница 2

Следующее очень важное дифракционное явление заключается в образовании сильного фона под очень большими углами с соответствующим уменьшением интенсивностей дифракционных линий. Объясняется оно следующим образом. [16]

В работе отмечено, что количественным определениям очень мешал сильный фон, и высказано предположение, что при увеличении дисперсии спектрографа ( в частности, при использовании спектрального прибора с дифракционной решеткой) и некотором улучшении условий возбуждения спектра можно повысить чувствительность анализа. [17]

Все перечисленные факторы приводят к длительным экспозициям, появлению сильного фона, препятствующего выявлению слабых линий и снижающего чувствительность метода. Поэтому сравнительно малые по размерам образцы необходимо нагревать до высоких температур иногда при длительности эксперимента 5 - 8 ч и в тоже время рентгеновская пленка должна находиться при комнатной температуре, тогда как расстояние от образца до рентгеновской пленки составляет всего несколько десятков миллиметров. [18]

При различных методах, связанных с измерением слабых сигналов на сильном фоне, большое значение имеют приемы так называемых дифференциальных измерений. При этом например сигнал испытуемой системы сравнивается с сигналом такой же системы, содержащей точно известное количество определяемого вещества, которое близко к содержанию его в исследуемой системе. Если фон постоянен во время опыта, но меняется от пробы к пробе, то применяют различные приемы компенсации таких изменений. Так, если при фотометрическом определении компонента А мешает компонент В собственной окраской, то испытуемый раствор сравнивают против такого же раствора, к которому прибавлены те же реактивы и дополнительно введено вещество, маскирующее определяемый компонент А. При этих условиях изменяющееся содержание мешающего компонента В компенсируется его изменением в растворе сравнения. Аналогично этому в пламенной фотометрии при определении кальция, которому мешает натрий, включают устройство со вторым фотоэлементом, который дает противоток, зависящий от концентрации мешающего элемента. Подобные приемы, правильно учитывая значение фона, позволяют увеличить чувствительность методов. [19]

Неполная монохроматичность излучения, особенно белый спектр рентгеновской трубки, создает сильный фон в основном в области малых углов дифракции. Это можно видеть из рис. VII.136, где приведены картины рассеяния ПВХ, снятые в медном излучении с двумя сбалансированными никелевым и кобальтовым фильтрами. Это приводит к относительному обогащению дифрагированных лучей длинами волн белого спектра по сравнению с первичным пучком. [20]

В этом случае в области 8 - 15 мк будет наблюдаться сильный фон. [21]

При определении труднолетучих примесей вместе с примесями возбуждается и основа, создавая сильный фон. [22]

Основными трудностями в проведении прецизионного определения параметров рутила в рассматриваемой системе является сильный фон, вызываемый флюоресценцией титана под воздействием СиК, а также размытие линий, вызываемое дефектами структуры. Впрочем, последнее можно использовать для получения дополнительной информации о качественном состоянии решетки. Понятно, что особое внимание требовалось при юстировке камеры. [23]

При исследовании движения частиц аэрозоля в поле коронного разряда на экране ЭОП возникает сильный фон из-за свечения коронного разряда. На рис. 8 приведены фотографии движения частиц дибутил-фталата радиусом 0 5 мкм в камере прямоугольного сечения 200x80 мм2 при скорости движения потока воздуха 1 м / сек. В средней ( горизонтальной) плоскости камеры натянуты четыре коронирующих провода диаметром 0 1 мм. Верхняя и нижняя стенки - металлические заземленные электроды размером 350 X Х 200 мм со щелями шириной 3 мм. [24]

Если даже удается вырастить кристаллы, времена действия рентгеновских лучей чрезвычайно велики и соответственно наблюдается сильный фон. Технические трудности в определении структуры этих соединений по описанной выше методике обусловлены неизвестной формой молекул, отсутствием у них центра симметрии и близостью порядковых номеров атомов, входящих в состав молекул. Введение тяжелого атома в целлодекстрины [65] может приводить к изменению структуры и уменьшению точности рентгеноструктурного анализа; тем не менее этот метод делает такой анализ практически возможным. [25]

При анализе урана, тория и циркония, спектры которых содержат огромное число линий, создающих сильный фон, удаление спектра основы до сих пор является единственным средством, делающим возможным анализ с приемлемой чувствительностью. Однако и для других труднолетучих веществ ( СаО, А12О3, BeO, MgO), применение метода фракционной дистилляции сильно повышает чувствительность определений примесей. [26]

Цепная молекула, вынутая из аморфного полимера. [27]

Характеризуя рентгенограммы аморфных полимеров, необходимо отметить, что, кроме нескольких широких колец, они обладают сильным фоном, который часто возрастает с увеличением угла рассеяния, достигая при некоторых Ф максимальной величины, и далее спадает к краю снимка ( ср. Измерение интенсивности диффузных колец и диффузного фона используют для определения процента аморфной составляющей в образце, на чем мы остановимся ниже. [28]

Арсеньева [311] впервые обнаружила, что после рентгенизации щелочно-галоидных фосфоров в коротковолновой ультрафиолетовой части их спектров абсорбции возникает сильный фон поглощения в широкой области, включающей активаторные полосы. Указанный фон Арсеньева правильно приписывала поглощению света решеткой основного вещества фосфора. Однако подробно это явление было исследовано лишь в последние годы в чистых кристаллах щелочно-галоидных соединений, в спектрах которых были обнаружены У-полосы поглощения, возникающие в ультрафиолетовой области под действием рентгеновых лучей. [29]

Точность метода невелика, количественные определения, связанные с измерением почернений спектральных линий на микрофотометре, затруднены из-за сильного фона. Обычно анализ проводился путем визуального сравнения почернений спектральных линий определяемого элемента в спектре образца с почернениями этих же линий в спектрах эталонных смесей. [30]

Страницы: 1 2 3 4