Форма - спектральная линия
Cтраница 4
Как уже отмечалось для двухчастичного кластера ( см. разд. В этой главе мы рассмотрим форму спектральной линии в рамках динамически экранированного кулоновского взаимодействия Vs в приближении случайных фаз. [46]
С увеличением амплитуды напряженности поля ВЧ модуляции Ям полезный сигнал на выходе СВЧ детектора вначале возрастает, а затем, начиная с некоторого значения, падает. Одновременно с увеличением Ям увеличивается искажение формы спектральной линии. [47]
В отсутствие корреляции между собственными значениями двухуровневая кластерная функция обращается в нуль, а спектральная автокорреляционная функция сводится одновременно к ( - функции, поскольку плотность состояний - это сумма ( - функций. Поэтому спектральная автокорреляционная функция оказывается удобной для анализа формы спектральных линий в реальных системах. [48]
Вносимые при - такой математической обработке искажения в форму спектральной линии учитывались исходя из влияния такой же обработки на теоретические спектры. [49]
При этом следует учитывать, что в действительности в методе ИК-спектроскопии количественно может быть определено в лучшем случае не более двух десятков параметров. Наличие гетеросоединений сильно ухудшает возможности метода из-за больших искажений формы спектральных линий, вызванных межмолекулярным взаимодействием в таких смесях ( например, водородными связями), при этом число параметров, поддающихся расчету, доходит до двух-трех. В масс-снектральном методе некоторые осколочные ионы приобретают строение, отличное от исходного, а единственная характеристика иона - масса ( точнее, отношение массы к заряду м / е), очевидно, ничего не говорит о era строении. В результате одной и той же массе иона соответствуют фрагменты самого разнообразного строения, и чем больше масса иона, тем этот набор больше. [50]
Параметры, зависящие и от динамики ядер, и от электромагнитного взаимодействия. К ним принадлежат относительная интенсивность сверхтонкой структуры и искажение формы спектральной линии. [51]
 |
Определение относительной интенсивности линии по методу ширины спек - тральной линии ( схема по Коннер у. [52] |
Это объясняется, в первую очередь, тем, что форма оптических спектральных линий не является достаточно постоянной. Она зависит как от формы и размеров щели спектрографа, так и от условий возбуждения спектров. С другой стороны, ширина этих линий часто бывает очень небольшой, что также затрудняет практическое применение метода для целей оптического спектрального анализа. Тем не менее, как показал, например, Коннер [72], применение этого метода в оптике возможно и иногда позволяет получить более удовлетворительные результаты, чем те, которые удается получить при использовании обычных методов анализа. [53]
Вместе с тем в серии специально поставленных экспериментов были показаны независимость формы спектральных линий, регистрируемых в спектрографе, от величины действующей поверхности отражающего кристалла ( при ее трехкратном изменении) и неизменность формы линии по всей ее длине. Последнее особенно существенно, так как при проведении сравнительных исследований эмиссионных линий элемента в различных соединениях и частой разработке рентгеновской трубки спектрографа для помещения на антикатод исследуемых веществ неизбежны небольшие и трудно контролируемые смещения фокусного пятна на антикатоде. [54]
Следует иметь в виду, что этот расчет является ориентировочным, так как форма спектральной линии ДФПГ отличается от Лоренцовой. [55]
Страницы: 1 2 3 4