Cтраница 1
Форма интерференционных полос, наблюдаемых в спектральном порядке, является результатом сложения ошибки поверхности заготовки и искажений фронта волны из-за погрешностей деления. Ошибка заготовки имеет один и тот же знак с двух сторон от нормали и уменьшается пропорционально косинусу угла наклона решетки. Ввиду того, что ошибка фронта из-за неточности расположения штрихов имеет противоположный знак с разных сторон от нормали, форма интерференционных полос, наблюдаемых в разных по знаку спектральных порядках, может быть различной. Для получения ошибки деления в чистом виде необходимо исключить ошибку заготовки, величина которой может быть определена по интерференционной картине в нулевом порядке. [1]
Определите форму интерференционных полос в интерферометре Рончи для первичных аберраций Зайделя. [2]
В зависимости от формы пластинки меняется и форма интерференционных полос. Если пластинка имеет вид клина, то интерференционные полосы равной толщины имеют вид прямых, параллельных ребру клина. [3]
Расположение соответственных лучей и соответственных точек определяет направление и форму интерференционных полос. [4]
![]() |
Значения допустимой свильности. [5] |
Контроль при помощи пробного стекла заключается в том, что в качестве допуска указывается число и форма интерференционных полос, которые возникают при накладывании пробного стекла на изделие. [6]
Из графиков, построенных по уравнению ( 261), видно, что при увеличении амплитуды вибраций форма интерференционного контура претерпевает изменение; изменение формы интерференционной полосы по сравнению с ее формой при. [7]
![]() |
Схема прохождения световых пучков в интерферометрах первого а и второго б типов. [8] |
Один из пучков проходит при этом через кювету с исследуемым раствором, а другой - через аналогичную эталонную кювет, наполненную растворителем. В интерферометрах этого типа форма интерференционных полос соответствует распределению п ( или концентрации) в кювете. В интерферометрах второго типа разделение пучков производится в направлении, параллельном п ( рис. XIV, 8, б), и тогда форм. К первому типу относятся рассматриваемые ниже интерферометры Жамена и Рэлея, а ко второму - интерферометры Лебедева, Брингдаля и Бейтельшпахера. [9]
![]() |
Модуляция интенсивности гипербол.| Схема образования изображения гипербол маятникового решения при распространении сферической волны в кристалле. [10] |
Очевидно, это условие относится и к форме дисперсионной поверхности или ее сечения плоскостью отражения. Выполненные до сих пор экспериментальные проверки формы интерференционных полос [85] не обнаружили отклонения от гиперболы. [11]
Обычно применение интерференционных методов основано на употреблении образцового эталона, сделанного с большой тщательностью. Накладывая со всеми необходимыми предосторожностями ( устранение пылинок, выравнивание температуры) на заданную эталонную поверхность испытуемую ( рис. 7.10), мы получаем между этими поверхностями тонкую воздушную прослойку, дающую в отраженном свете отчетливую интерференционную картину, По форме интерференционных полос и их ширине можно судить о недостатках изготовленной поверхности и видеть, какие участки отступают от заданной формы, в какую сторону ( выпуклость или вогнутость), и приблизительно оценить величину отступлений. Если несовершенство испытуемой поверхности очень невелико, то интерференционные кольца будут широкими, а в отсутствие отступлений вся поверхность будет иметь равномерную окраску. [12]
![]() |
Оптическая схема Филпота и Кука в модификации Лонгсворса. [13] |
Вместо точечной диафрагмы здесь применяется растр, который в случае системы скрещенных щелей играл бы роль горизонтальной диафрагмы. В рэлеевском интерферометре, однако, этот растр дает начало многополосной системе высокой интенсивности. Форма интерференционных полос соответствует распределению показателя преломления в кювете, а внешний контур тени - распределению градиента показателя преломления. [14]
В случае свободных колебаний в источниках увеличение излучаемой энергии приводит к более быстрому их затуханию. До сих пор рассматривались только точки экрана, лежащие в плоскости чертежа на рис. 5.3. В пространстве поверхности максимальной и минимальной интенсивности представляют собой гиперболоиды вращения с фокусами в точках S, и S2, так как соответствуют множеству точек, для которых разность расстояний от двух заданных точек ( источников S, и S2) имеет одно и то же значение. Форма интерференционных полос на экране определяется линиями пересечения этих гиперболоидов с плоскостью экрана. [15]