Cтраница 4
В реальных сверхпроводниках существует некоторая глубина, на которую магнитное поле все же проникает. Она зависит от температуры и геометрической формы образца. При температурах, которые на 1 - 2 К ниже Гкр, поле проникает в сверхпроводники на глубину порядка Ю-5 см. Поэтому очень тонкие сверхпроводящие пленки - толщиной 10 - 5 см и меньше - не являются идеальными диа-магнетиками: магнитное поле в них нигде не равно нулю. [46]
Метод резонансных колебаний наиболее широко используется для измерений вязкоупругих свойств жестких материалов. Это накладывает определенные особенности на геометрическую форму образцов и, как следствие этого, на конкретный вид выражений, используемых для расчета механических характеристик исследуемого материала. [47]
Магнитная анизотропия, выраженная уравнением ( 3), возникает под влиянием целого ряда причин, которые могут действовать как в отдельности, так и одновременно. Магнитная анизотропия может наблюдаться вследствие анизотропии геометрической формы образца. [48]
В реальных сверхпроводниках существует некоторая глубина проникновения 8 магнитного поля. Экспериментально установлено, что распределение поля по глубине сверхпроводника зависит от геометрической формы образца и его температуры. При температурах, которые на 1 - 2 К ниже температуры перехода, глубина проникновения магнитного поля в сверхпроводники имеет величину порядка 10 s см. Поэтому в тонких сверхпроводящих пленках толщиной в 10 - б см и меньше магнитное поле нигде не равно нулю. [49]
![]() |
Пиролитическая ячейка для анализа растворимых полимеров. [50] |
Для достижения аналитических результатов не требуется идентификации хроматографических пиков, поскольку пирограммы можно рассматривать как отпечаток пальцев полимера, отвечающий его качественной индивидуальности. Указывают [1, 2], что воспроизводимость пирограмм зависит от стабилизации условий пиролиза: размера и геометрической формы пиро-лизуемого образца, температурного поля пиролитиче-ской ячейки и времени пиролиза. [51]
Если, однако, пластина имеет конечные размеры и правильную геометрическую форму, то необходимо ввести поправочную функцию. В общем случае при произвольном расположении и ориентации системы зондов на пластине поправочная функция зависит от параметров, характеризующих геометрическую форму образца, местоположгние и ориентацию системы зондов. Кроме того, пластину с линейной системой зондов можно рассматривать как совокупность двух образцов, имеющих общую границу, для каждого из которы:; проводятся измерения методом Ван-дер - Пау. Например, для бесконечной пластины линия зондов делит ее на две полуплоскости, для которых справедливо соотношение (1.27) с учетом того, что через каждую полуплоскость протекает половина тока. Соотношение (1.27) справедливо и для симметричной пластины произвольной формы, если линия зонда проходит через ось симметрии. [52]
Хрупкость материала определяем по внешнему виду поверхности излома. В других записях Кирколди имеются данные, касающиеся хрупкости стали и другого металла и влияния скорости нагружения, температуры и геометрической формы образцов. В результате различных экспериментов он пришел к заключению, что хрупкое разрушение стали и ковкого чугуна, которые разрушаются вязко под действием прилагаемых с низкой скоростью нагрузок, происходит под действием внезапно приложенной нагрузки. [53]
Наиболее яркое проявление перехода через предел текучести при растяжении полимеров состоит в образовании шейки ( рис. 11.1) или деформационных полос. В этом случае вся пластическая деформация совершается в узкой области образца. Природа происходящих при этом процессов зависит как от геометрической формы образца, так и от схемы его нагружения, что будет подробнее обсуждено ниже. [54]
Степень универсальности метода определяется количеством разнородных объектов, для которых возможна регистрация температурно-зависимого параметра и термометрия. Методы ЛТ являются узкоспециализированными, в отличие от универсального метода термометрии по тепловому излучению. Узкая специализация методов ЛТ означает, что любой из них позволяет проводить измерения лишь для ограниченного набора материалов, а в некоторых случаях имеются еще дополнительные требования к геометрической форме образца и свойствам поверхности. Компенсировать узкую специализацию каждого из методов ЛТ удается их многочисленностью и разнообразием. [55]